二手 ACCRETECH / TSK UF 200R #293591573 待售

ACCRETECH/TSK UF 200R是為滿足現代半導體器件生產和先進研究的需求而開發的高性能晶圓載體。TSK UF200R prober是一種自動化的多功能設備，可用於檢查和測試範圍廣泛的半導體器件，從超靈敏的MEMS器件到復雜的高級晶圓組件。ACCRETECH UF 200 R具有先進的五軸機構,在其整個工作區域提供卓越的精度和高速探測。該系統允許高速探測任何測試結構,而無需手動調整探測器對準。有了可選的光學計量單元，ACCRETECH/TSK UF 200 R可以精確測量長達八微米的距離。UF 200R先進的光學計量機由一個可定制的測量區域組成，用超精確的非接觸式像素驅動激光工具測量。ACCRETECH UF200R還具有集成的自動變焦變焦資產,該資產在測量時會自動放大感興趣的區域。該模型還提供了先進的定量微觀檢查能力，允許以高達500倍的放大倍數捕獲銳利的圖像。UF 200 R用途廣泛,能夠容納各種探頭配置。它可用於測試平面設備和3D設備,並選擇探針集,包括懸臂探針、平行接觸探針或晶圓級凸點探針。這樣可以確保任何測試配置的最佳探測解決方案都可用。它還支持廣泛的晶圓尺寸和基板，包括GaAs、SiC和InP。此外，TSK UF 200R提供集成的機器視覺設備和集成的CCD攝像頭，允許對測試結構進行全自動目視檢查。它還支持一系列成像選項，包括明暗場測量、對比度控制和偏振成像，以及全白光幹涉測量。ACCRETECH UF 200R通過開放接口（包括多種通信協議）易於控制和自動化,使用戶能夠輕松地將系統集成到現有生產線中。最後,UF200R采用高質量的組件構建,並由全面的技術支持團隊提供支持,確保了可靠的運行和卓越的性能。為了滿足最苛刻的要求,TSK UF 200 R是市場上用於探測和測試半導體器件的頂級單元解決方案之一。