二手 ACCRETECH / TSK UF 200R #9269335 待售

ACCRETECH/TSK UF 200R是一種專用探針掃描電子顯微鏡（SEM），旨在為故障分析、材料表征和過程監測提供高分辨率成像。其集成的數字電子和用戶友好的操作使得TSK UF200R許多SEM應用的理想選擇。ACCRETECH UF 200 R提供高達150nA的電子束電流、1.7nm的源點分辨率、高達20,000X的放大倍率和高達10mm的視野的檢測系統。它還配備了瞄準光束導軌和數字標線，可以讓用戶輕松定位感興趣的區域。它還可以對LOD為20nm的200 nm厚的樣品進行成像。TSK UF 200 R還具有可變角度傾斜級,能夠進行廣泛的角度測量。它包括一個能準確快速記錄數據的集成測量系統，並允許用戶選擇樣本厚度、觀察模式、繪制表格，以及在各種激發模式之間進行切換--所有這些模式都來自同一接口。此外，UF 200 R附帶了全面的成像和分析包，包括圖像編輯器、標記、質量檢查、光譜分析、電影效果、色彩控制。它還提供了廣泛的分析工具，用於進行X射線微分析、光學壓縮、元素映射、圖像對比度增強等等。ACCRETECH/TSK UF 200 R能夠輕松高效地執行甚至最復雜的SEM成像和分析任務。其緊湊的設計、高速掃描和精密的軟件使其成為質量控制、故障分析、材料表征和過程監控的理想工具。