二手 ACCRETECH / TSK UF 200S #150857 待售

ACCRETECH/TSK UF 200S Prober是專門為檢查半導體器件的性能和生產質量而設計的先進的prober系統。該探頭可以快速準確地測量各種基板、框架和其他相關部件的表面平面度、溫度、濕度、變形、振動、應變和其他參數。TSK UF200S利用創新和可靠的多通道掃描算法,確保準確和精確的數據采集和分析。ACCRETECH UF 200 S采用模塊化組件設計,使用戶能夠根據自己的特定需求進行自定義。它具有強大的處理器,內存容量大,能夠更快地獲取和分析數據。掃描儀與CCD相機和帶變焦鏡頭的集成顯微鏡集成在一起，提供被測樣品的高分辨率圖像。其可調顯微鏡級可沿x軸、y軸和z軸方向移動。它支持範圍極為廣泛的測量,例如樣品的高分辨率圖像、角度和線性測量、表面平面度、面積、傾斜度和其他參數。TSK UF 200 S還包括各種測試頭模塊和一系列測量配件。通過與這些組件模塊集成，用戶可以輕松創建一個完整的測試系統，並優化他們的測試過程。它還提供功能強大的軟件包,為用戶提供硬件、數據處理和分析、報告及其他功能的一整套功能。ACCRETECH/TSK UF200S具有廣泛的功能,使用戶能夠快速、準確和可靠地測量各種樣本屬性。它提供了高達400平方毫米的大樣本面積和高達0.5納米的精確掃描分辨率。它還可以測量高達1納米的高度變化。此外，它的精確定位精度確保樣品精確放置在螺桿上。而且，10毫秒的高速掃描時間可以讓用戶快速測量大量樣品。總而言之,ACCRETECH UF 200S是一個先進的prober系統,具有廣泛的功能,可幫助準確測量半導體器件的性能和生產質量。它提供了精確可靠的掃描算法、模塊化組件和功能強大的軟件包,使測試和分析更加容易和高效。對於希望最大限度地提高測試過程的準確性和效率的公司來說,UF 200S是一個理想的選擇。