二手 ACCRETECH / TSK UF 200S #9270790 待售

ACCRETECH/TSK UF 200S是一種原子力顯微鏡（AFM），用於探測納米級材料的結構。TSK UF200S是一種高分辨率、低噪聲的AFM，樣本量大，適合在半導體、生物和材料研究中應用。AFM的設計目的是以高精度測量納米級特征的尺寸。ACCRETECH UF 200 S配備高速ZDrive。此功能可實現快速的樣本掃描和改進的時間分辨率。ZDrive還用於控制掃描參數，允許用戶進行快速準確的測量。此外,ACCRETECH/TSK UF 200 S具有高探針分辨率和低噪聲結構,使用戶能夠精確測量高度和寬度高達幾納米的特征。UF 200 S的另一個特點是其高品質的成像能力。AFM使用懸臂探針，具有單一像素分辨率成像。該系統能夠非常精確地產生納米結構的圖像。此外，AFM還有一個集成的熱室，可用於通過監測材料的溫度剖面來研究材料的熱特性。UF200S還擁有一個高級軟件套件,可提供各種功能來操作和分析AFM映像。此軟件允許用戶輕松測量和分析地形特征,如表面粗糙度、步長和輪廓以及線寬。此外，軟件還提供了傅立葉變換、Z-平均、線輪廓擬合等高級分析工具。最後,ACCRETECH UF200S非常適合高吞吐量應用。這是由於它的自動掃描工作流使快速分析大量樣本成為可能。此外,AFM還具有各種硬件組件,可實現高效的數據采集,從而使用戶能夠節省時間和資源。總體而言，TSK UF 200 S是一種先進的AFM系統，設計用於測量納米級特征。其高精度和分辨率使其適合於材料、生物和半導體領域的研究應用。此外,它的自動化工作流和高級軟件使其非常適合高吞吐量應用。