二手 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9235934 待售

ACCRETECH / TSK UF 200SA
ID: 9235934
優質的: 2004
Prober Manipulator: MHF300L2 Stage chuck: Gold chuck Temperature control: Hot chuck Frequency band chuck temperature: 30°C-150°C Cleaning unit type: Ceramics pad CPU Board version: 7507A Ethernet Motor type: APC Probe card holder TFT LCD Color display, 10.4" No OCR Slot number / Boards Slot 1 / CPU Slot 4 / VGAC Slot 6 / COGNEX Slot 8 / PIO Slot 10 / TTL/GP-IB Slot 11 / 5CH PGEN Slot 14 / CAP Sensor Slot 16 / AVME Slot 17 / LD. IO Slot 18 / LD. PGEN VME Rack / Board name / Description 1 / Master CPU / ADVME 7507 4 / VGAC2 / - 6 / ITV / COGNEX 8200 8 / PIO / - 10 / GPIB / - 11 / (5) PGEN / - 13 / Slave CPU / AVME-344A 14 / Capacitive sensor / - 16 / LD I/O-1 / AVME-115B 17 / LD PGEN-1 / - 18 / PI IO / - ETC: COGNEX Board version: 8200 External media: FDD, MOD 2004 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200SA是一個功能齊全的處理器,旨在為學術和工業應用中的半導體器件提供高精度探測。該設備旨在研究從矽片到先進3D結構的各種材料,包括集成電路設計和MEMS傳感器。Prober配備了種類繁多的探測、測試和分析能力,涵蓋從開發到生產的整個測試過程。該探頭由高精度探頭定位系統、用於對準的x-y級和用於後處理的電動z級組成。此單元由功能強大的軟件支持,該軟件具有統計數據分析和測試模式生成功能,以及CAD數據庫管理、設計優化和自動測試功能。該機器提供自動晶片對準和探測,精度高達100納米,可移動工作區域共有238 x 46毫米。Prober還提供了多種功能以實現最佳性能。其中包括一個內置的多程序采樣存儲器、自動的個體模具動態補償和線性校正、自動刮擦檢測以及自動通過/失敗分析。此外,它還集成了廣域全向對準透鏡和廣域激光探測工具,以便對直徑達10英寸的晶片進行快速和準確的測試。TSK UF200SA非常適合金屬化研究、有源器件表征、模級泄漏電流測量以及各種半導體器件測試和分析任務。它為用戶提供了高精度的探測和測試、快速的對齊和卓越的可重復性,以實現準確的數據采集。此外,它的模塊化設計使其易於配置,並且可以輕松擴展以滿足不斷變化的需求。
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