二手 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9243718 待售

ACCRETECH/TSK UF 200SA是日本TSK公司為半導體行業開發的一款prober。TSK UF200SA是一種先進的自動晶片探測設備，提供高精度的晶片探測和采樣。它使用樣本級光學視覺系統和高速圖像識別算法的組合來檢測幾何特征中的違規行為，包括樣本的對齊、形狀和圖樣。該探針在高通量自動測量樣品的電和光電特性方面表現出色。它的特點包括提供廣泛的定位和移動可能性的6軸級、高精度的光學測量單元以及由多達4個探頭配置和探頭卡組成的高度可配置的探測機。此外,該工具還可以與遙控面板連接,以控制資產的運行。ACCRETECH UF 200 SA附有一個內置的分選模型，能夠自動分選各種樣本。分選設備利用基於激光的樣品分選傳感器來檢測和識別兩種類型的樣品。集成的監視器可以向操作員實時顯示圖像,並配有直觀的用戶界面。Prober還支持從骰子到整個晶圓的一系列樣本量。UF 200 SA提供各種自動化功能測試,如晶圓塗層和薄膜測量、介電/金屬薄膜/厚膜測量、電氣泄漏/沖擊/電力線物理測量、圖像分析、OTP內存驗證和視覺檢查。這可以在HAST模式下進行，其中在單個晶圓表面進行了一系列測試，並且可以編程超過200K的模式目標。Prober還能夠以每秒高達100K的測試點速度運行,並且只需一次用戶操作即可同時運行高達32K的探測器。此外,Prober還具有監控和分析功能,旨在快速、精確地診斷錯誤或故障。內置的自我診斷功能允許進行預定義的檢查或錯誤測試,通過這些檢查或錯誤測試可以識別和隔離系統設備的任何異常以進行維修。TSK UF 200 SA是半導體工業研發項目以及生產和測試環境的理想工具。它的自動化測試、易於使用的界面和診斷功能使其成為許多工程項目的可靠、準確和非常有價值的工具。