二手 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9270779 待售
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









ID: 9270779
Prober, 8"
COGNEX 8200
Hot nickel chuck
MHF-300L Hinge manipulator
2004 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200SA Universal Laser Prober是一個將激光技術與搬運設備結合起來提供精密電氣測試的自動化測試站。這種高精度激光能力與高速、自動化測試相結合,使系統成為各種半導體器件生產過程的理想選擇。激光器的設計使激光的定位精度優於均勻不均勻的測試表面。憑借其長期的可靠性、高可重復性和堅固的設計,TSK UF200SA為制造商提供了最大的靈活性和測試產量。該裝置的高精度光學激光頭能夠精確、可靠地掃描和對準激光,以進行各種測量和測試。Prober還具有自動XYZ定位級和Z軸提升臂,可在低強度接觸下快速測試循環。該機還包括一個10 「x 10」卡盤表和一個兩軸旋轉定位表,可編程用於高通量測試。組合的系統在準確性、工作效率和可重復性方面提供了卓越的性能,並降低了安裝成本。ACCRETECH UF 200 SA prober配備了第二代VHF脈沖型激光器,精確控制激光點的角度和行進速度。此外,TSK UF 200SA prober使用先進的光學高性能掃描工具和非接觸式模擬資產來精確測量小型或大型電阻元件,並檢測半導體材料中的高壓異常。該模型的高精度激光光學器件可實現高度精確的位置控制,並可支持均勻截面,精度高達0.3微米。該技術旨在滿足現代電子制造工藝日益嚴格的測試要求。此外,UF 200 SA還設計用於與Windows和各種類型的UNIX操作系統兼容,以實現高水平的靈活性和性能。
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