二手 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9283907 待售
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ID: 9283907
優質的: 2006
Prober
Platform: J750 / J750 EX
OCR Type: Type 4
Chuck
Temperature: 30°C - 150°C
Tray module: Tray
Clean unit, 2"
Docking type: J750
Docking kit: TERADYNE K Dock
PMI Function: PMI I
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200SA是一種高性能、經濟高效的3D非接觸表面和光學載體。它是廣泛的半導體、MEMS和光電檢測計量應用的理想工具。TSK UF200SA設計用於對超平坦曲面和高縱橫比特征進行完整的串聯3D非接觸測量。ACCRETECH UF 200 SA具有集成的先進光學和照明設計，提供卓越的分辨率和準確性。近紅外光學器件能夠測量最小光斑尺寸為2.5 μ m、可重復性為0.5 μ m或更高的特征。它還采用了創新的3D掃描激光自動對焦，使得測量高長寬比、大步高、高可重復性成為可能。ACCRETECH/TSK UF200SA配備高速數據采集和處理控制器。它可以捕獲數據點的速度比傳統的配置文件快70倍,同時保持極高的分辨率。可以使用內置的輪廓和線分析特征進一步處理這些信息。這些功能的結合使UF 200 SA能夠在各種應用中跟蹤公差極為嚴格的系統。UF200SA易於使用和編程,並且與許多行業標準的計算機和操作系統兼容。它包括一個直觀的圖形用戶界面，允許快速高效地開發自動化的測量和分析程序。ACCRETECH UF200SA是滿足您所有光學分析器需求的絕佳工具。憑借其先進的光學和照明功能以及快速的數據采集和分析功能,您可以快速輕松地捕獲、測量和分析數據。它內置的輪廓和線路分析功能使其成為精確、非接觸表面和光電子檢查和計量應用的完美工具。
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