二手 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9314157 待售

ACCRETECH/TSK UF 200SA是一種計量儀器，設計用於對小至150納米的半導體材料和器件進行精確的非接觸測量。這種prober結合了高速和卓越的精度在高度和平面掃描的獨特組合。TSK UF200SA旨在滿足半導體產量提高和可靠性監測的關鍵要求。Prober有靈活的設計，可以與各種基板和裝置一起使用。ACCRETECH UF 200 SA具有工業級、無油的空氣軸承系統,可快速、準確地定位探頭尖端,前後距離超過200,000次/秒。探針的進/出運動以20納米為增量可控，總行程範圍為0.2mm。這使得prober能夠準確測量基板和設備的3D形狀和曲面,而無需接觸。UF 200SA prober配有CCD相機，用於定位基板上的地標，準確定位探頭。相機的分辨率為3.2 μ m/像素，能夠識別和測量基板表面非常小的細節。幹涉成像技術（IFI）用於測量和分析基板的3D形狀，從而能夠準確測定表面粗糙度。UF200SA配備了多種軟件功能,可精確測量各種半導體相關特性,如共面性、剖面圖、振動分析、對準、傾斜和失真。Prober還具有自動校準和對準功能,以確保精確測量。其他功能包括實時數據收集、實時顯示和數據分析功能。TSK UF 200 SA為測量半導體材料和器件的物理特性提供了高速、精確、可靠的解決方案。它得到了功能強大、用途廣泛的軟件應用程序的高度支持，能夠快速測量和分析基板和設備。ACCRETECH UF 200SA prober用於許多行業，包括半導體生產、汽車、光纖行業等等。