二手 ACCRETECH / TSK UF 200SA #9314178 待售

ACCRETECH/TSK UF 200SA是一種促進使用掃描聲學顯微鏡對晶圓樣品進行高效和精確的非接觸測量的載體。它提供高達0.01微米精度的測量能力，能夠對超聲波圖像進行精確的自動非接觸晶圓映射。Prober提供了一個獨特而通用的體系結構,易於使用和維護。其用戶友好的觸摸屏界面允許直觀操作。TSK UF200SA還提供精確、可編程的樣品和探頭定位，在測量中允許精確的準確性和可重復性。它配備了先進的、閉環的、自動化的樣品和樣品機制，允許精確定位樣品和探測器，並具有可重復的精確度。ACCRETECH UF 200 SA具有多種測量能力，包括自動化采樣和調諧、晶圓映射和缺陷映射、叠加測量和背面聲反射率測量。它具有擴展的焦點深度,允許在其整個視野中統一收集數據。Prober還有一個外部同步脈沖輸出，允許在不同的測量中精確關聯時間。ACCRETECH UF 200SA具有提供信號穩定性的嵌入式控制器和信號調節系統。其控制信號在機上生成，在800MHz到8GHz以上的頻率下與信號特性匹配，提供了出色的信號穩定性和重復性。其先進的功能集提供了精確控制信號調節的能力，實現了高通量的測量。TSK UF 200SA有一個集成的嵌入式計算機，支持數據采集、分析和顯示所需的處理器和軟件。嵌入到prober中的操作系統提供了多種功能,包括易於編程和大內存容量。此外,它還支持各種標準軟件應用程序,從圖像處理到實時控制。TSK UF 200 SA還配備了強大可靠的硬件平臺，為數據采集和分析提供了絕佳的操作環境。它提供高速數據采集和信號調節系統的實時控制。它具有用於遠程控制的以太網接口、用於顯示結果的VGA輸出端口和用於數據存儲的USB端口。總體而言，ACCRETECH/TSK UF200SA是晶圓樣品非接觸測量的絕佳指標。它易於使用的接口、先進的信號調節和嵌入式控制器使其成為研究、半導體和電子測試中精確測量的可靠、通用的工具。