二手 ACCRETECH / TSK UF 300 #9361380 待售

ACCRETECH/TSK UF 300 prober是集成電路（IC）、光電和半導體制造商用來測量IC電性能的高精度和精確度的設備。Prober設計用於在尺寸從50微米到1毫米的設備上執行晶圓級參數測試。Prober以四個主要組成部分運作；一個prober平臺，一個垂直線性運動執行器，一個晶圓處理程序，和一個集成的測量系統。Prober平臺由基板、凸起臂和X-Y橫向板組成，均配有精密直線電動機和編碼器。這個平臺允許用戶界面（通過操縱桿）的平滑和精確的自動移動，用於樣品定位。垂直線性運動執行器仔細移動晶圓處理程序，將晶圓精確放置在螺旋槳平臺上。該裝置能夠測試各種器件參數，包括電阻、電容、閾值電壓、半導體增益和擊穿電壓。它還能夠測量和驗證介電常數、頻率響應、轉導測量、噪聲水平、串聯電阻和介電損耗。此外,prober還具有板載控制的步驟,以實現準確性和可重復性,以及帶有數字顯示器的計算機使用界面,以實現視覺反饋。TSK UF 300 prober與各種測試人員配合使用。它可以與光學掃描儀、電氣測試系統和專門的測試儀結合使用，以提高設備檢測精度。Prober與廣泛的已知測試人員兼容，在產生需要高精度測試的半導體和集成電路以取得持續成功方面特別有用。Prober還具有內置的安全功能,提供必要的安全性和法規遵從性。總體而言，ACCRETECH UF300 prober是測試IC和其他半導體器件的強大工具。它具有多種特性、精確度和精確度,非常適合表征和驗證集成電路所需的高精度和可靠的電氣連接。Prober具有很高的適應性，結合了多種測試設備，得到了多種領先測試設備的支持，並具有較高的安全標準，使其成為半導體制造商的首選。