二手 ACCRETECH / TSK UF 300 #9394788 待售

製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 300
ID: 9394788
優質的: 2000
Prober With 7507A VME rack Hot chuck missing 2000 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 300是為在高容量和質量保證應用中用於半導體測試而開發的最先進的載體。它具有精密級,為晶圓處理和探測提供了極好的重復性和高速度。Prober還結合了高分辨率光學對準和單點校準等先進技術以及觸摸臂探測和先進的電動級控制。TSK UF 300提供了一個大的垂直晶片級,能夠容納直徑達300毫米的晶片。該級由提供最佳可重復性的高精度伺服電機驅動。電機通過觸摸屏控制器操作,允許用戶設置和監控晶圓位置、速度和加速輸入,以實現無錯誤采樣。電動級使用直接驅動設備,以減少功耗和振動。它還具有高速掃描機制,使晶圓探測具有高精度和可靠性。ACCRETECH UF300包含一個先進的光學對準系統,用於被測晶片的精確對準.它有一個自動激光對準裝置,用於在探測晶片時對準模具中心。激光瞄準臺由精密手持定位單元控制,使用戶能夠準確地確定和調整樣品在螺桿內的對準。另外,prober利用單點校準機,確保單向精度。ACCRETECH/TSK UF300還配備了觸摸臂探針,用於晶圓的精確測試。Prober配備了幾個高級觸摸臂,如有圖案的探針、單目標對準、雙目標探針。觸摸臂在測試石材和晶片之間提供增強的電隔離,從而防止地面彈跳和電磁幹擾(EMI)。Prober還通過電動舞臺控制增強,使用戶可以對探測過程的各個方面進行編程和控制。這確保了用戶可以輕松調整和修改測試設置以獲得最佳結果。總之,UF 300是一個可靠和精確的prober專門為高容量和質量保證應用設計。其先進的電動級控制、自動化光學對準工具、單點校準和觸摸臂探測技術使其成為半導體測試的理想工具。
還沒有評論