二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621713 待售

製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 3000
ID: 293621713
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Wafer prober, 12" Process: V5400 Hot air Load port ATT A300T Air cooled chuck X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C) X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm Z Axis control accuracy: ±2 µm Stage durability: 200 kgf Does not include Hard Disk Drive (HDD) Power supply: 120 AC, Single phase 2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000是一種用於精密電子元件電氣測試的prober。該裝置用於質量保證和生產監測過程。它具有3D模式識別設備,可以檢測元件位置和對齊方式,並且可以檢測微小的短缺、元件的錯位以及精細的機電設備中的其他異常。Prober能夠高速運行,吞吐量高達每小時600晶圓。它配備了自動化晶片處理和晶片加載系統,允許快速的產品周期時間和增加的吞吐量。該設備由一個固定基座和一個x/y軸系統組成,該系統允許廣泛的運動範圍。該探頭可精確測量40 mm範圍內的元件,可根據測量範圍和精度進行調整。此外,它還能夠手動或自動檢查和測量分辨率高達14納米(nm)的零件。Prober配備了一個可以檢測是否存在微短缺的AccraGaugeTM光學測量單元,並配備了AccraVisionTM軟件,可以提高測試的效率和準確性。Prober還配備了包括高速相機、表面照明以及廣泛的一組參數設置的視覺機器。AccraVision軟件允許操作員指定某些功能大小、檢測位置和公差,以便設備能夠準確檢測正在測試的組件中的任何異常。AccraGauge工具使用3D矢量映射來精確測量元件上特征之間的3D距離,並創建元件曲面的映射。Prober專為高水平的精密元件而設計,有三種外形規格可供選擇:1 up低調、2 up中高或3 up高調。它還提供了一個內置的晶圓提升過程,允許操作員訪問晶圓的角落和晶圓中有問題的區域,以訪問細膩或晦澀的組件。該prober的輸出既是實時在線的,也可在線下進行進一步分析和審查。該prober設計用於精密電子元件的測試和電測量,是對元件和組件進行質量保證和生產監控的理想工具。除了功能和檢測能力外,它還為用戶提供了一個強大可靠的測試組件的平臺,具有較高的吞吐率和內置的自動晶片處理和晶片加載。
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