二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621716 待售

製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 3000
ID: 293621716
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Wafer prober, 12" Process: V5400 Hot air Load port ATT A300T Air cooled chuck X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C) X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm Z Axis control accuracy: ±2 µm Stage durability: 200 kgf Does not include Hard Disk Drive (HDD) Power supply: 120 AC, Single phase 2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000是一種用於半導體器件表征和測試的高級儀器。它是一種模塊化設備,可實現一系列探測功能,從手動的、基於接觸的測量到自動化的、無接觸的測量。此功能可用於多種設置,包括晶圓探測、封裝測試、故障分析等。該系統采用改進的無觸摸設計,並針對高精度探測進行了優化。TSK UF 3000不使用基於接觸的探針,而是利用16通道掃描手指延遲線模塊來收集數據。此模塊能夠以陣列格式以亞微米分辨率掃描整個晶片表面。這與深度蝕刻能力和超精度操作相結合,使其能夠提供極高的精度和性能。該單元還具有一個4軸驅動級,可以在各種軸的亞微米尺度上精確移動。刀具的協調探頭機提供手動和自動測量解決方案。手動探測可以通過在晶片表面上懸掛探針和手動讀取感興趣的值來完成。自動探測利用工具的高級光學和計算機軟件,以比手動方法更快、更準確的速度搜索和分析功能。這可用於檢測缺陷,測量電阻、電容和熱特性等參數。這些功能為ACCRETECH UF3000提供了廣泛的應用。它可用於各種表征任務,如過程優化、設備性能分析、故障分析和生命周期測試。也適合大批量生產環境,可以整合到現有生產線中。它的無接觸方法使其適合於潔凈室環境中的晶圓探測和封裝測試,其高精度和分辨率使其能夠提供關於設備特性的詳細數據。ACCRETECH UF 3000是一款高級處理器,可為各種半導體器件測試應用程序提供高精度、無接觸的探測。它結合了先進的光學、掃描手指延遲線模塊、4軸驅動級和集成軟件,使其能夠在各種設置中提供高精度數據。這使得它適用於一系列的過程優化、設備性能分析和故障分析任務,以及大容量的生產環境。
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