二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621718 待售
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ID: 293621718
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Wafer prober, 12"
Process: V5400 Hot air
Load port
ATT A300T Air cooled chuck
X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C)
X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm
Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm
Z Axis control accuracy: ±2 µm
Stage durability: 200 kgf
Does not include Hard Disk Drive (HDD)
Power supply: 120 AC, Single phase
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000是一個利用接觸技術和非接觸技術來提供有效的計量解決方案的專家。它檢查高級和舊式IC和設備包的各種參數,例如電氣性能和缺陷。TSK UF 3000通過先進的光學計量技術為用戶提供了最大的準確性和可靠性,並具有檢查各種厚度和形狀的樣品的能力,非常適合先進的晶圓驗收、過程控制和故障分析。ACCRETECH UF3000使用晶圓對準系統,該系統設計用於準確查找和校正樣品的模具位置和傾斜角,以確保可能的最佳測試結果。該探測器采用了一系列接觸和非接觸技術,包括光學、電氣和真空探測。光學探測器使用無損紫外線激光器進行顯微鏡測量,表征幾何參數,如輪廓、臺階、高度和孔位置。電氣探頭使用自動化的prober工具來測試接觸墊的電氣參數。ACCRETECH UF 3000具有自動晶片裝載機和卸載機,可快速進行樣品裝入和提取。Prober附帶一個用戶友好的GUI,旨在使導航更加輕松快捷。可通過GUI控制變量數組和可編程測試設置,從而提高整個設置的靈活性。Prober還有一個集成的檢查庫,以幫助存儲測試程序並提供訪問它們的簡單方法。ACCRETECH/TSK UF3000能夠同時對多個樣本進行多任務處理和測試,從而以最小的誤差快速生成結果。探頭通常裝有加壓空氣,以確保最小接觸力和提高可靠性。Prober還可用於各種環境,包括潔凈室、實驗室或生產線。TSK UF3000的精度、速度和可靠性使其成為晶圓驗收和提高模具產量的理想解決方案。
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