二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #293621719 待售
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ID: 293621719
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Wafer prober, 12"
Process: V5400 Hot air
Load port
ATT A300T Air cooled chuck
X,Y Overall accuracy: ±2.0 µm (Temperature stability: ±1°C)
X,Y Stage accuracy: ±1.0 µm
Z Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm
Z Axis control accuracy: ±2 µm
Stage durability: 200 kgf
Does not include Hard Disk Drive (HDD)
Power supply: 120 AC, Single phase
2006 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000是為晶圓檢查和半導體器件電氣表征而設計的自動化prober。此工具非常靈敏,即使在高溫下也能檢測到微小的變化。利用先進的多探測器運動控制,用戶可以在可變溫度下快速準確地映射設備的不同區域。TSK UF 3000最多支持16個探測器,允許每個探測器同時測試獨立的設備。整個系統與TSK WaferScan軟件無縫集成,使用戶能夠快速測量和分析收集到的數據。ACCRETECH UF3000提供了不同溫度範圍的選擇,這有助於加快過程。它還包括許多不同的探頭,允許用戶以不同的角度和位置與設備進行接觸。溫度範圍可以精確控制,可以達到-50°C至+400°C的極端溫度。該工具還設計用於註入信號能量,並在納秒內測量電路響應以進行動態設備表征。TSK UF3000通過支持軟件和高速信號處理,提供了前所未有的準確數據和性能。它具有廣泛的管理功能來管理測試程序,包括信噪比、限制器和可調節的動態範圍。它還具有快速互換的適配器板,允許快速、輕松地更改測試配置。ACCRETECH UF 3000提供高精度的探針運動控制和Z高度控制,精度極佳。此工具適用於晶片級格式和模具級編址。它通過自動數據記錄系統提供強大的分析和記錄功能。對於可重現的高精度結果,UF3000是理想的工具。其強大的設計和尖端的技術使其成為動態半導體零件嚴格檢查和電氣表征的理想解決方案。
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