二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9195629 待售

製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 3000
ID: 9195629
晶圓大小: 12"
優質的: 2007
Prober, 12" Loader type: TSK Loader: Single port (Loader is right) Cassette ID reader: No Chuck size: 12" Chuck top material: Nickel coating Chuck temperature range: 30-150C High force Z driver Auto prober to pad alignment Needle mark inspection Fail mark inspection Auto needle height and align Probe card change: Manual 3-64 Multi-site probing: 1-512 GPIB Interface ACCRETECH Standard command Temperature unified chuck option: No Low noise chuck option: No External chiller unit: No Backside wafer ID OCR: No Wafer ID barcode reader: No Low temp chuck: No Options: Needle cleaning Soak time 2007 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000是一種剖面儀,是一種表面分析儀,用於測量各種材料(包括陶瓷、金屬和有機材料)的平面和體積表面參數。它可以測量臺階、角度、平面和凹槽等曲面的輪廓,以及檢測和測量各種輪廓形狀(如直角、角度、正方形和圓形)中的表面粗糙度、波浪度和偏差。TSK UF 3000利用兩種探針觸控筆,一種是菱形尖端粗糙度觸控筆,另一種是圓形開槽觸控筆,用於廣泛的測量應用。金剛石尖尖的手寫筆為小型元件提供了高分辨率的粗糙度測量,而開槽手寫筆允許對開槽零件進行更專業的測量。ACCRETECH UF3000還使用主動手寫筆振蕩,以確保探測器與表面之間的精確接觸,從而進行更精確的表面輪廓測量。探頭的工作範圍為50毫米x 50毫米。其最大測量範圍為3微米,垂直分辨率最高可測0.1µm。它具有自動手寫筆更換單元,能夠快速輕松地更換探針,從而提高測量的準確性和效率。TSK UF3000還包括多種高級功能,例如可以檢測到表面不規則的線性曲面輪廓測量,如線性方向上的粗糙度和波浪度,以及非常適合用單個運動測量復雜3D曲面形狀的3D輪廓測量。它還具有部件配置文件的自動數字化功能,允許用戶以靈敏度和準確性分析、跟蹤和存儲數據。UF3000還采用堅固耐用的設計結構,適合在惡劣的工業環境中定期測量和長期使用。它具有多種接口,包括USB、LAN和RS-232,使其能夠與一系列控件和網絡系統連接。ACCRETECH/TSK UF3000還有一個可選的低振動支架,非常適合精確測量超高精度零件,從而消除了對測量過程的不必要的環境影響。
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