二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9249699 待售
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單擊可縮放
已售出
ID: 9249699
Wafer prober
Service manipulator 350 head plate
With 350 APC for cold chuck
Docking standard with pogo tower: 9.5"
Temperature range: -40°C to 150°C
UF 3000 Base unit with stretched loader
Hot chuck nickel (Ambient to 150°C)
Single foup loader, 12"
Open cassette, 8"
Image data processing system
Automatic PTPA / Needle height alignment
SECS / GEM
Ethernet I/F
GPIB I/F (ACCRETECH Standard) and cable
Probe Mark Inspection (PMI)
Real time wafer map display
Multi die test up to 256
Bump height setting
Group index
Prober monitoring SBL, BM, YPS, RC
Multi-pass probing
Soak time
40 Figures internal printer
COGNEX OCR Reader and T7 reader (Front / back reading)
Multi function cleaning (Maximum 3 areas)
Touch sensor
Tag reader for FOUP cassette
Remote terminal kit for UF 3000
Dew point meter
Chuck blow
Signal tower
PC System
Manuals
CE Marked.
ACCRETECH/TSK UF 3000是一個專業的prober,旨在協助測試和評估電子電路和組件。該設備采用精密三軸X-Y-Z運動控制系統，以精確的力和位置反饋對電子元件進行精確的檢測和刺激。它還包括一個低力分離單元和一個自動對準機器，以便於元件放置。TSK UF 3000的兩軸運動控制工具使prober能夠準確定位探頭,以便與任何形狀或大小的電路板接觸。可以將資產編程為以可追蹤的精度向目標位置的任何方向移動。該模型采用多變量力控制設備，能夠通過接觸力感測精確檢測和測量機電特性。機電探測模塊在其掃描範圍內集成了許多力傳感器，提供了接觸力水平和方向的數據，每秒超過100點。ACCRETECH UF3000包括一個對準系統,該系統可自動將prober head與正在測試的組件對準,以確保正確的接觸。此單元通過映射板上每個觸點的位置來精確對齊移動組件。測試儀還采用了低力分離機，以降低對正在進行測試的部件造成損壞的風險。該工具可以有效地以比從板上卸下部件所需的更小的力拉出部件,從而防止薄金屬部件過度拉伸。該資產包括一個直觀的用戶界面，允許用戶控制工具的各種參數並輕松預覽測試結果。程序還允許用戶自定義設置和參數以滿足其特定需求。此外,該模型還采用內置的安全措施來防止部件損壞,並采用輕巧的設計使工具易於移動和設置。該設備還包括與各種測試和測量設備的兼容性，以便於集成到測試過程中。UF3000是一種先進的處理器，旨在幫助評估和測試電子元件。精密的3軸X-Y-Z運動控制系統、多變量力控制單元、對準機、低力分離工具、直觀的用戶界面以及與一系列測試和測量設備的兼容性，使得TSK UF3000精確結果的理想載體。
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