二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9268173 待售
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已售出
ID: 9268173
晶圓大小: 12"
優質的: 2005
Prober, 12"
Single side loader
Overall accuracy: Within 4 μm
Stage positioning accuracy: 2 μm / φ300 mm
Z-Axis stroke (Applicable stroke): 37 mm
Z-Axis control accuracy: ±2 μm
Stage durability: 200 kgf
Chuck type: Hot chuck
Low noise, 12"
Temperature range: +40°C to +150°C
MHF4000 Hinge and Floppy Disk Drive (FDD)
Does not include:
Chiller
Hard Disk Drive (HDD)
2005 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000 Prober是一款獨立的混合晶圓Prober,設計用於測試尺寸不超過6英寸的半導體元件。它具有內置測量設備和3軸高分辨率級,可調定位分辨率為0.5 µm。該prober能夠在一系列環境中對電子元件進行高速測試,以及可重復性和準確性。它還提供自動校準、自動對準和自動測量功能,以實現測試參數的精確可重復性。該處理器的核心是其強大、集成的數字控制系統,該系統具有集成的、電機驅動的3軸舞臺運動,使TSK UF 3000 Prober能夠最大限度地提高實驗室的工作效率。它還具有手動控制或遠程PC控制的靈活性,為任何測試過程提供易於使用的接口。Prober最多支持四個測量系統來支持多種類型的測試,從而消除了對具有專用測試的多個探針的需求。ACCRETECH UF3000 Prober以高達200 mm/s的速度提供高達300 mm的晶圓行程,提供高速測試性能和精確的精度。晶片可以穿入螺紋到試劑的真空單元中,從而進行密封測試和精確的晶片對準,同時消除潛在的氣體泄漏和汙染。其獨特的伺服控制機還允許UF 3000 Prober將晶片精確定位在測量的活動區域內,以達到最精確的結果。UF3000 Prober還配備了先進的集成高分辨率成像工具,用於識別晶圓表面上的缺陷和缺陷。它適合於容納各種類型測試的探針和夾具,並且可以與集成的Auto Alignment Asset結合使用。這使得TSK UF3000 Prober可用於多種測試應用,如亞微米晶圓探測、LED模具探測、多種電氣測試、納米加工和霧化。ACCRETECH/TSK UF3000 Prober是各種半導體制造和測試環境的寶貴工具。其強大的設計和與電機驅動的3軸級運動的集成為精確、可重復的測試提供了可靠的解決方案。其獨特的集成成像模型進一步提高了缺陷識別和驗證的可用性。ACCRETECH UF 3000 Prober具有相當高的準確性和可重復性,可在實驗室環境和生產現場提供精確、優化的測量結果。
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