二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9357332 待售

ACCRETECH/TSK UF 3000 Prober是一種高性能的半導體探針測試設備，設計用於在晶圓器件組件上進行電氣測試。系統利用XYZ運動臺將探針卡定位到安裝在舞臺上的晶片組件上。探針卡由機械臂控制,機械臂將其移動到相對於設備的位置。TSK UF 3000具有用於精確控制探針卡位置的多通道模式識別技術。ACCRETECH UF3000的探測速度非常快，即使在最苛刻的測試條件下也能保持高精度。該單元具有廣泛的探針和附件，以滿足各種測試應用。它具有用於檢測任何給定設備中的短故障和打開故障的內置故障檢測和隔離功能。此外，UF3000有一個內置的校準和測試程序庫。此庫包含可以直接下載或上載到計算機的測試參數和數據。ACCRETECH UF 3000有兩種電測量模式。第一種模式是穩態測量，包括在設備中插入適當的探頭，捕獲其電壓和電流信號，然後進行時域和頻域分析，並顯示測量結果。第二種模式是瞬態測量，它是用一個專門的探頭進行的，該探頭在設備運行的不同階段捕獲設備的電壓和電流信號。捕捉到瞬態後,它們將被分析並顯示在工具的液晶屏上。ACCRETECH/TSK UF3000還提供了廣泛的診斷選項,包括現場軟測試、非晶圓淺溝隔離測試和無創目視檢查。在軟測試模式下，探針卡用於測量器件晶片形式的電氣參數。淺溝隔離測試可以檢測設備內部在常規電氣測試中經常遺漏的故障。這種測試是以無損的方式進行的，需要極少的努力。最後，無創視覺檢查可以用來檢查裝置組裝前後的結構。UF 3000旨在最大限度地減少操作員幹預,並最大限度地提高測試效率。其探針卡設計為最大限度地利用樣品，減少測試時間。該資產還具有自動信號分析和故障檢測功能，大大減少了手動測試的需要。它內置的遠程控制功能使用戶能夠輕松地從任何地方訪問和監視測試模型。此外,它還具有可擴展的數據管理設備,用於存儲所執行測試的結果。總體而言，TSK UF3000 Prober是一種先進可靠的測試系統，能夠對各種晶圓組件進行高性能測試。它內置的特性和功能使其成為各種應用程序的理想測試解決方案。