二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9375638 待售
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ID: 9375638
優質的: 2007
Prober
Single loader
Head stage
Hot chuck, 8"-12"
Chuck material: Nickel
Hard Disk Drive (HDD)
Floppt Disk Drive (FDD), 3.5"
Magneto optical drive
Loader type: FOUP, Open cassette
Dual robotic wafer transport arms
Pre-alignment stage unit
Auto needle alignment
Alignment camera
X, Y Dual HEIDENHAIN scales
Color LCD control panel
With touch panel switches
Alarm lamp pole
Options:
Hot chuck: 30°C to 150°C
Wafer ID recognition
Needle cleaning option:
Wafer type
polish plate
Multi site parallel probing
Fail mark inspection
Probe mark inspection
GPIB Interface
Ethernet interface
Automatic probe card changer
Image processing board
Bump height setting
Group index
Multi pass probing
Printer
Network: Veganet
Tester and manipulator: ST MT72
CE Marked
2007 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000是為現代半導體器件中的高級故障分析而設計的prober。Prober允許用戶快速輕松地識別和隔離潛在缺陷或產生問題,並使高級故障分析速度更快、效率更高。TSK UF 3000 prober具有大的8英寸晶圓容量。它具有可調、高分辨率的攝像機，用於獲取探測現場的詳細圖像，還可以進行各種阻抗和功率測試。該螺旋槳經過優化，精度在0.1微米以內。探頭配有三軸數字伺服控制器，用於精確運動控制。Prober配有內置測量系統，提供實時性能測量和探測結果自動測井。它能夠處理各種測試條件和測量參數，包括電壓、電流和溫度。Prober是完全可編程的，可以在廣泛的應用中使用，從晶圓測試和評估到缺陷識別。ACCRETECH UF3000 prober還能夠監視範圍廣泛的參數化信息。具有測量高頻響應、頻率響應和差分電容的能力。Prober還能夠執行功率測量,例如電源線電壓降和電源/電源關閉穩定性。它還可以通過捕獲s參數和脈沖誘導移位率（PISR）來測量低水平噪聲性能。該測試儀采用高密度成像，可檢測小至0.4微米的缺陷。它可以與多種集成電路特性一起使用，例如3D模具堆叠和使用嵌入式和離散薄膜結構。此外，該探測器可用於蝕刻後檢查，設計為與現有的測量控制系統完全兼容。UF 3000 prober提供了精確度、速度和功耗的完美組合,旨在使高級故障分析快速高效。它設計為用戶友好,並具有直觀的界面,允許用戶快速啟動和運行。它為探測和測試各種現代半導體器件提供了一整套功能和性能能力。
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