二手 ACCRETECH / TSK UF 3000 #9410147 待售

製造商
ACCRETECH / TSK
模型
UF 3000
ID: 9410147
Wafer prober Control system Hard Disk Drive (HDD) Floppy Disk Drive (FDD): 3-1/2" Magneto optical drive Head stage Single FOUP port for 25 wafer, 8" -12" Manual wafer inspection transfer unit Dual robotic wafer transport arms Per-alignment stage unit Advanced wafer alignment unit Dual (X and Y) Heidenhain scales Quad pod Z stage LED Color control panel Touch panel switches Alarm lamp pole (Blue / Orange / Green) (3) Fixed trays Inspection tray LC40-12 Nickel cold chuck Chiller unit: -40°C to 150°C.
ACCRETECH/TSK UF 3000是一種prober裝置,設計用於測試和測量各種半導體材料的性能。利用其精確的光學激光束檢測,測量電線和電路的電阻,提供了高度精確的測試和測量結果。TSK UF 3000采用多向XY掃描階段,可以擰緊或松動以符合所測試材料的確切規格。方程和設置是可調的,以確保精確的測試和監測。這進一步得到了prober重量輕但堅固的結構的支持,以及它在操作時實現高速的能力。ACCRETECH UF3000還具有二極管橋電路、內置16位ADC以及各種電阻器和電容器,使其能夠精確檢測電線、電路和材料的電阻和介電特性。ADC設計為具有耐熱性能,可進行廣泛的動態測量。該系統還配備了高靈敏度和可調探針,包括開爾文探針、錐體和A/XP探針,進一步增強了其能力。為了進一步確保準確的讀數和結果,ACCRETECH/TSK UF3000采用了熱近似色變換(HACT)算法和運動估計原理。HACT算法可以精確測量溫度和電阻,即使在難以檢測材料的情況下也是如此,而運動估計原理顯著減少了測量時間,使樣品探測速度更快。最後,TSK UF3000還由高性能、低成本的PC備份,用於通過基於Windows的程序控制Prober。此程序允許輕松監控、設置調整和數據存儲,幫助用戶促進高效、準確的測試和測量操作。總而言之,UF 3000是測試和測量各種半導體材料的理想裝置,提供精確準確的結果。
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