二手 ACCRETECH / TSK UF 3000EX-e #9211360 待售
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已售出
ID: 9211360
優質的: 2017
Wafer probers
Chuck type: NI
Single loader
OCR
Card changer
Hot chuck, 8"-12"
Chuck controller temperature range and accuracy: Ambient to hot
X, Y Position accuracy
Pin to pad alignment
Fail mark inspection
Needle alignment
Auto needle height setting
Color LCD display
Bump height setting
Wafer mapping capability
Needle inspection
GP-IB
RS232
Color display and touch screen
No off site marking and TTL
2017 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000EX-e自動prober設計用於測試和檢查晶圓級設備。Prober提供精確的測試模式生成、高速晶圓級探測以及參數測量的有效性能。TSK UF3000EX-E可以測試半導體、微機電系統(MEMS)、薄膜晶體管(TFT)、薄膜電容器(TFC)、有機發光二極管(OLED)等多種器件。Prober可以在高精度檢測模式下以每小時150段的速度檢查多達100毫米的晶片,允許快速精確的測試。ACCRETECH UF 3000 EXE可以通過其高級Z軸掃描系統(AZS)檢測中型到小型缺陷。AZS能夠檢測晶圓器件的大小I/O,以及橋接、浮動和不存在相鄰器件。因此,它可以檢測到信噪比的細微變化。在進行測試時,prober可以識別問題並通過軟件采取糾正措施。Prober還支持Remote Distribution System,它允許半導體工程師使用智能手機操作和修改模式。此外,ACCRETECH UF 3000EX-e可以使用實時數據傳輸系統在安全的環境中方便地與各種設備共享測試結果。TSK UF 3000EX-e prober提供準確高效的結果,同時確保平穩運行。它有一個集成的設計,允許prober保持數據連續性,即使設備被關閉,prober也結合了技術和先進的軟件,使它在測試中提供增強的可靠性和可重復性。它的參數波動監控使用戶能夠在測試編號進行過程中快速檢測到可能出現的問題。此外,該探頭采用自動金剛石探頭保護器,有效防止探頭磨損。而且,接觸力傳感器產生精確的結果,給工程師準確可靠的測試結果。UF 3000 EX-E prober是任何尋求可靠高效prober以高速率進行晶圓測試的公司的理想選擇。低維護要求和堅固的結構,prober可以提供準確的結果,並確保一個平穩的測試體驗。
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