二手 ACCRETECH / TSK UF 3000EX-e #9279317 待售

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ACCRETECH / TSK UF 3000EX-e
已售出
ID: 9279317
晶圓大小: 8"-12"
優質的: 2017
Wafer prober, 8"-12" OCR Card changer Chuck type: Nickel Hot chuck Chuck controller temperature range and accuracy: Ambient to hot XY Position accuracy Pin to pad alignment Fail mark inspection Needle alignment Auto needle height setting Color LCD display No off site marker Bump height setting Needle inspection Wafer mapping capability GP-IB RS232 No TTL Color display Touch screen 2017 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 3000EX-e是專為大容量晶圓測試而設計的全自動prober。它能夠測試和探測150毫米至300毫米大小的多個晶片類型。該裝置采用高精度移動級,可以以2mm/s的速度運行,以最小的模具移位進行精確的探測和測試。該prober具有16位分辨率,重復精度為0.5um,用於精確定位精度。它的主機驅動設計為用戶提供了選擇開環或閉環探測設備的靈活性,從而提供了額外的功能,如散射測量、光束剖析、叠加剖析和電壓對比度映射。該單元還可以容納各種探針卡,並具有集成探針卡裝載機。Prober還包括一個可補償X、Y、Z偏移的視覺對準系統,可實現最佳的模具放置,並提高精度。為了最大限度地提高性能和效率,TSK UF3000EX-E配備了直接驅動電機單元,可消除與旋轉部件相關的機械損耗。此外,驅動機器可以精確地加速到10m/s2,從而使晶圓映射器能夠快速到達所需的測試區域,從而縮短了周期時間。Prober還提供了一系列適合ATE應用的功能,如熱循環、激光標記、刀片拾取和電氣故障分析。ACCRETECH UF 3000 EXE還通過了EPA認證,以實現最佳的安全和氣候控制,確保設備在所需溫度範圍內運行。總體而言,UF 3000EX-e是一種先進且可靠的處理器,可實現150 mm至300 mm大小晶片的最大測試吞吐量。它具有高精度移動階段、集成的視覺對準工具、主機驅動的設計以及各種附加功能,使其成為大容量晶圓測試的理想選擇。
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