二手 ACCRETECH / TSK UF 3000EX #9166353 待售

ACCRETECH/TSK UF 3000EX Prober是一種半導體測試設備,用於評估各種半導體器件的電性能。該系統采用掃描探針顯微鏡（SPM）、微量計量、幹涉測量和激光處理解決方案的組合，使用戶能夠精確測量和分析半導體結構、組成和電性能。該單元能夠執行多種功能，如高速晶圓探測、探針卡測試、SPC數據收集以及其他高級測試和分析操作。機器裝有自動晶片處理工具，用於將晶片輸送到交換負載端口。該負載端口使晶片能夠以受控的方式交換，而不會造成汙染或損壞。TSK UF3000EX Prober還配備了多功能、多模式功能。這允許用戶定義自己的環內和環外測試組合，如接觸分析、電氣參數、電路表征和SPC數據收集。該資產還具有一系列創新的軟件包,使用戶能夠自定義其prober測試,包括配置不同的測試條件、創建自定義測試程序和輕松分析數據的能力。ACCRETECH UF 3000 EX Prober也有激光切割和掃描的集成激光源。這使用戶能夠準確測量、切割、陣列或掃描半導體表面上所需的區域或活動。此外，該模型還具有高頻測量能力，便於在極高頻率信號下進行測試，最高可達10GHz次。TSK UF 3000EX Prober是用於半導體測試和測量應用的理想解決方案，其SPM、微量計量和幹涉測量的結合為表征和評估各種半導體器件提供了準確可靠的方法。用戶還可以利用設備快速有效地處理大量數據，同時利用其激光綜合源進行激光活動。