二手 ACCRETECH / TSK UF 300A #9189902 待售

ACCRETECH/TSK UF 300A是為測試和測量半導體樣品而設計的先進prober設備。該系統為晶體管和集成電路的測試提供了更高的準確性和可靠性。TSK UF300A利用Alpha-Numerical Controller （ANC）提高控制和測量精度。它配備了8英寸彩色液晶顯示器，為prober的操作提供視覺指導。ACCRETECH UF-300A還配備了數據分析接口（DAI），以啟用數據分析和具有復雜樣本的交互式設備測試。ACCRETECH UF300A設計有一個High Palatial Residency （HPR）,它能夠產生自動化的測試條件,以便對小型和大型樣本進行探測。它還配備了內置真空卡盤，以將樣品固定到位，防止探測過程中移動，並確保最佳測試分辨率。UF300A提供522.5 x 298 mm的優化探測面積,最大坐標分辨率為0.25 um。通過其最小化熱路徑（MTP）特征確保了UF 300A的精度。此功能有助於在測試和測量過程中保持恒定溫度,從而減少來自設備的信號漂移和噪聲。此外,UF-300A還提供了一種非接觸式探測機構,它允許在不施加探針力的情況下測試高達50毫米的非導電樣品。這減少了由於接觸或機械作用力而損壞被測試樣品的風險。該機還配備了Query Short Laser beam和Back Scatter Auto Focus功能，以提高非接觸式探測的精度。TSK UF-300A具有面向自動化和易用性的軟件包。它使用一系列算法進行編程,以方便測試和測量過程。此外,它還支持多種編程語言,包括Visual Basic、C#和LabVIEW,為自動化提供了靈活性。UF 300 A是用於測試和測量各種半導體樣品的高效和先進的工具。它為各種測試目的提供了改進的控制、準確性和可靠性。