二手 ACCRETECH / TSK UF 300A #9363120 待售

ACCRETECH/TSK UF 300A是一種專為小型零件的精確、高精度探測和測試而設計的處理器。它能夠探測和測試尺寸在0.3到100毫米之間的部件。TSK UF300A具有先進的測量設備,可精確檢測和響應1 μ m精度的探測器變化。適用於廣泛的探測測試應用，包括模具控制、故障分析、過程控制、非接觸式測量。ACCRETECH UF-300A的測量系統由一個高精度、計算機控制的階段、若幹探頭持有者以及一系列可定制以適應各種測試場景的測試框架組成。舞臺工作面積大，可達200毫米x 200毫米，定位精度為1 μ米。高度精確的舞臺運動是由高分辨率線性伺服電動機和非接觸線性和角度編碼器驅動的。這樣可以在整個表面進行精確定位和無縫探測。探頭支架能夠精確控制探頭尖端，提供探頭尖端位置精確、可重復調整、多個探頭安裝、探頭力精確調整等特點。測試框架提供了精確且可重復的測試場景，並允許從頂部或側面進行單次移動探測，以及多層次和多角度探測。UF 300A還具有獨特的智能探測和測量單元,可精確執行自動、非接觸式測量。它使用SPM（掃描探針顯微鏡）、LFM（大視場顯微鏡）、AFM（原子力顯微鏡）的非接觸、非操縱式3 D探測方法，測量步高、薄膜厚度、表面粗糙度、錐角等各種零件和表面參數。這使得TSK UF-300A可以用於模具控制、故障分析、過程控制和非接觸測量等各種應用中。ACCRETECH/TSK UF-300A還具有許多用戶友好的功能,包括大型液晶顯示屏、易於使用的圖形用戶界面（GUI）和一系列可選軟件包。GUI允許方便的數據輸入和編程，可選的軟件包提供額外的測試功能。最後,ACCRETECH/TSK UF300A是一種用於小型零件精確、高精度探測和測試的測試儀,具有先進的測量機器,能夠以1 μ m的精度精確檢測和響應探針的變化。ACCRETECH UF 300 A憑借其非接觸式探測和測量工具、用戶友好的功能以及可選的軟件包，適用於廣泛的探測和測試應用。