二手 CASCADE MICROTECH / ALESSI Summit 11000 #9255340 待售
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單擊可縮放
ID: 9255340
Manual wafer prober
With RF microwave wafer chuck, 6"
Wafer chuck travel:
X-Y Travel: 203 mm x 203 mm with 0.1 um resolution
Z Travel: 5 mm with 1 um resolution
Large area bridge mount:
X Axis travel, 6" (±3" from center of travel)
Y Axis travel, 8" (±4" from center of travel)
Linear manual Z-lift, 3"
Microscope:
(2) A-Zoom microscopes
Bright field illumination
Eyepiece viewing with MITUTOYO WF 10X/24 eyepiece lenses
Single objective slider with MITUTOYO MPLAN APO 10x objective lens
Internal CCD camera
Includes:
Vibration isolation workstations
Probe positioners (RF and DC)
Triax / BNC connector panels
Vacuum connector panels
Coaxial and tri-axial cables
Microscope optics
Thermal fluid
Probe card holder insert assembly.
CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 11000 Prober是用於以精確和速度分析半導體器件的線路IC測試和表征平臺的頂部。該單元由行業領先的兩家公司ALESSI和CASCADE MICROTECH制造,由於其優越的性能、易用性和完整的功能集,成為市場上最受歡迎的測試和表征系統之一。ALESSI Summit 11000具有可編程平臺,可高度配置,使用戶能夠快速準確地測試設備。它的可編程平臺具有多個操作參數,可以調整以適應各種各樣的設備類型和大小。此外,CASCADE MICROTECH Summit 11000支持廣泛的數據采集、信號調節、分析和設備質量控制功能。Summit 11000的核心是一個10µm分辨率,50GHz頻率指示器。該探測器能夠對器件特性進行高度精確的測量,如晶圓阻抗、電容和小信號響應時間。它還為設備表征提供了廣泛的支持,包括DC、AC、動態和沖擊測試。該單元還配備了多種軟件,便於對數據進行操作和分析。軟件中包含的許多功能都是可自定義的,使用戶能夠快速準確地創建深入的設備分析報告。CASCADE MICROTECH/ALESSI和ALESSI也以模塊化方式設計了該系統,以確保該系統可以很容易地更新和定制,以滿足用戶的所有需求。總體而言,CASCADE MICROTECH/ALESSI Summit 11000 Prober對於那些希望獲得非常準確、可靠且易於使用的測試和表征工具的用戶來說是一個理想的解決方案。它具有廣泛的特點以及尖端的數字技術,使其成為任何嚴肅的IC測試和表征設施所必需的。作為市場上首屈一指的產品之一,ALESSI Summit 11000是幫助確保半導體器件質量和可靠性的寶貴工具。
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