二手 Custom Probe Station #9004454 待售
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ID: 9004454
Probe Station
Steel base plate 20" x 20" x 1/2"
Brinkmann stages used in probe position settings
(3) Probe supports with micrometer adjustment for the X and Y axis
Z axis has course and fine adjustment knobs for height adjustment
(3) Probes with a fine angled tip for electrical contact probing has a shielded coaxial cable connected
Centrally located sample support stage, 4-3/4" x 4-3/4" under a Bausch & Lomb zoom microscope
This stage has a micrometer for the X and Y position adjustment and the ability to be rotated about 45 degrees to the right and left
Bausch & Lomb Stereo Zoom 5: Zoom range: 0.8x to 4.0x
(2) 20x WF eye pieces
Vacuum test plate, no vacuum pump comes with the unit
Plastic vacuum line and a switch for connecting or removing the vaccum is mounted on the base plate
Light source iincluded (no mounting rods).
Prober又稱定制探測站，是一種用於測試和測量電子元件電氣特性的高度先進的技術。探測站通常由一個帶多個探針的真空密封腔室組成,每個探針都可以獨立瞄準被測設備（DUT）的特定區域。此外，它通常包括一個可以調整的平臺，以適應設備的尺寸、形狀和電氣特性。定制探測站的主要目的是測量和分析DUT的電氣特性。這包括測量電路的電流、電壓和電阻，以及測量設備的溫度和熱特性。探頭，一般是精密儀器，也可用於測量其他參數，包括信噪比、電壓噪聲、測試速度、功耗、漏電電流和穩定性。使用Prober探測是使用半導體prober進行的。這臺機器可以被編程為探測整個設備的各個區域，提供對設備性能的寶貴洞察。例如，探測可用於調查開關關閉或打開時間、設備阻抗以及功率損耗和耗散。探測後，可以產生DUT的圖像進行視覺分析。除探測外，探測站還可用於進行人工老化測試、ESD測試、示波器測試、壓降測試、電流-電壓關系測試、熱測試、光學顯微鏡等測試。它也可用於生成圖形，以幫助比較設備操作。此外,還可以保存測試結果並將其上載到數據庫以供將來分析。定制探測站還為客戶提供可靠的篩選和高級測試程序。例如,可以對測試進行編程以查找設備上的異常,例如短路。當檢測到有故障的組件時,可以設計自定義測試過程來識別和鑒定故障,並且可以更換該組件。總體而言,Custom Probe Stations是非常有用的工具,用於測試和分析各種應用程序中電子元件的電氣特性。它們非常可靠、準確且可定制,能夠提供對設備性能的寶貴洞察。
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