二手 DCG SYSTEMS D-Prober #9224944 待售
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ID: 9224944
Prober
with ZEISS Supra 55 Field emission scanning electron microscope (FESEM)
(6) Probes
Loadlock
Optimizer
Heat stage
KEITHLEY Parametric analyzer not included
2011 vintage.
DCG SYSTEMS D-Prober是一款高端Prober,其設計目的是在從半導體工程到平板顯示器診斷的各種應用中實現速度和精度的復雜動態過程分析。D-Prober是一種多功能設備，利用先進的機器人技術和先進的視覺算法，在高吞吐量系統中快速獲取高分辨率圖像。該系統具有高分辨率的X-Y級,可以自動對準探針和晶片。該級也可用於較大的晶片和/或基板，使其成為較大面積測量的理想選擇。DCG SYSTEMS D-Prober還具有精確的Z軸,為自動探測提供了卓越的位置控制和精度。該單元還包括一臺設計為最大限度地減少探頭與基板之間氣隙的超低型機，確保了最高精度和可重復性。D-Prober能夠進行高密度探測，同時處理多達10個探測器。它包括幾個特性和過程，以幫助提高探針精確接觸的概率，如智能預接觸傳感過程，補償預對準以確保探針與晶圓具有相同的對準，對準傳感器以確保探針的精確對接，以及用於優化路由和高速測試的靈活的過程流工具。資產配備了可靠的視覺和視覺自動化組件,以提高流程性能,例如3D視覺,用於精確測量擴散層、晶圓邊緣和接觸點。它還包括用於增強圖像處理、圖像分析、圖像到運動映射以及自動校正對齊過程的嵌入式軟件。DCG SYSTEMS D-Prober配備了強大的探針控制模型，使其適合極端環境，如變溫、低或高真空、高沖擊和振動。它還能夠進行復雜的過程控制，例如控制參數測試和可靠性測試的電壓水平。與其他技術先進的探針相比，該設備具有高度環保和節能的特點，因為D-Prober設計為綠色且不浪費能源。它也有能力與各種各樣的基板一起工作，從纖薄的晶片到大的基板，使其適合不同的工程和生產應用。總體而言,DCG SYSTEMS D-Prober是一個專門的Prober系統,旨在以最高的精度和速度實現準確的過程分析和測試。它具有先進的機器人技術、精確的定位控制、高分辨率成像、視覺自動化、強大的過程控制和環境友好性。D-Prober越來越多地用於從半導體工程到平板顯示器診斷的應用，是高效可靠探測的理想單元。
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