二手 ELECTROGLAS 1034XA #123638 待售

ELECTROGLAS 1034XA是一種用於通過物理接觸測試和分析生產中集成電路的先進儀器。1034XA可實現快速接觸探測,從而減少總體測試時間、提高產品質量和提高產量。它以高度可靠的設計和盡量減少停機時間和操作員培訓時間來滿足大批量生產的需求。ELECTROGLAS 1034XA設計用於關鍵部件的高精度測試。它采用先進的Z軸設計,可實現一致且可重復的垂直運動,實現精確的接觸對準和探頭到墊板的位置精度。1034XA包括一個定制的專利引腳對準設備,可確保每個表面安裝接觸探針在發生電接觸之前正確對準。該系統還支持引腳調整,允許在同一塊板上使用不同的引腳配置。ELECTROGLAS 1034XA設計用於精確、高速的接觸探測。它提供了最小的接觸力，減少了機械損壞正在測試的設備的可能性。1034XA具有高達75 kHz或100 kHz的高通量,可提供快速的測試周期和出色的測試覆蓋範圍。ELECTROGLAS 1034XA還具有同時或順序協調多個探針的能力，以提高吞吐量，每個模具的測試周期更少。1034XA還有一個板載視覺單元,可以在測試過程中檢查探針接觸的針腳,並提供額外的反饋,用於添加其他校正,例如額外的探測以校正故障。此功能還提供了進一步優化和定制測試程序的潛力。ELECTROGLAS 1034XA還具有一些方便的功能，如自動調平機，以簡化探針加載和移除的過程。Prober還與廣泛的夾具、元件和測試系統兼容，使其易於集成到現有的生產過程中。1034XA還可與自動處理程序和射頻測試儀配合使用，以實現精確的測試可重復性和吞吐量，滿足大批量生產的需要。綜上所述，ELECTROGLAS 1034XA prober是一種可靠、高性能的集成電路測試分析工具。其先進的Z軸設計可確保精確的接觸對準和定位,以及用於檢查針腳接觸的板載視覺工具。1034XA支持高速接觸探測,具有最小的接觸力和協調的多次探測,以實現快速的測試周期和出色的測試覆蓋範圍。Prober還與各種夾具、元件和測試系統兼容，可以很容易地與自動化處理程序和RF測試程序集成，用於精確測試和吞吐量。