二手 ELECTROGLAS 2010CX #9248878 待售

ELECTROGLAS 2010CX
製造商
ELECTROGLAS
模型
2010CX
ID: 9248878
晶圓大小: 6"
Probers, 6".
ELECTROGLAS 2010CX是一種高度先進的半導體探頭,能夠對先進晶圓基板上的集成電路進行超快測試,如矽、砷化氙和其他化合物半導體。憑借其獲得專利的先進靜電驅動技術,這一設備具有前所未有的測試速度和準確性。2010CX為測試過程帶來了更大的靈活性和性能。它配備了先進的觸摸屏控制器和多級訪問功能,用戶可以快速配置測試並輕松在測試之間移動。觸摸屏控制器還允許配置功能強大的高級算法,這些算法可以快速調整以應對測試系統的退化。這款功能強大的Prober擁有先進的XYZ掃描功能,能夠以前所未有的速度和精度測試晶圓上的多個芯片或模式。ELECTROGLAS 2010CX具有XYZ掃描能力,能夠快速精確地檢測開路和短路等缺陷。此外,2010CX能夠實現芯片與通用封裝的兼容性,測試Bare Die和QFN、CSP和TSOP封裝。該設備還通過高分辨率直流、交流和電容測試提供業界領先的表征測試速度和準確性。先進的prober技術還允許在不同溫度下進行高度精確的電容和電感測量。這臺機器還配備了平面化泵來補償晶圓表面的加工差異,並提高測量溫度的準確性。在安全性方面,ELECTROGLAS 2010CX包括先進的ESD保護,大大降低了ESD損壞被測試設備的風險。此外,該工具符合ISO-9000、安全和歐洲指令,也符合EMC(電磁)標準。總之,它是測試高端半導體晶片的理想載體。
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