二手 ELECTROGLAS 3001 #9071364 待售

ELECTROGLAS 3001 Prober是一個專門用於半導體故障分析（FA）應用的測試平臺。這種最先進的系統具有緊湊、完全集成的設計,易於設置和使用。3001能夠自動探測任何大小或類型的設備,包括Wire Bond、Flip Chip和Microtromechanical Systems （MEMS）。它具有堅固的結構,具有很高的可靠性、靈活性和可擴展性。ELECTROGLAS 3001 Prober專為高生產率而設計,並提供多種功能幫助用戶最大限度地提高測試效率。其主要特點之一是長期穩定，無論溫度或濕度長期變化如何，都能糾正樣品未對準的問題。它還提供自動調焦和數字變焦選項的能力。此外，它還具有通過程序宏控制X-Y-theta級的能力，這使得在不同探針卡之間切換更加容易。3001的不同部件包括基站、絕緣工作臺、可變探針、X-Y-theta級以及其他各種關聯電子設備。基站包含控制系統、硬件和軟件。絕緣工作臺確保用戶和被測設備的安全。可變探針允許探測各種類型的設備。X-Y-theta級為測試提供了精確、可重復的運動控制，減少了設置時間，提高了精度。最後，使用相關的電子設備，如電源、信號放大器和示波器來解釋測試過程中得到的信號。ELECTROGLAS 3001 Prober為極高的精度和魯棒性而設計。它具有自動校準過程,可幫助確保在多個測試周期中保持一致的性能。它也非常適合進行電源驗證測試,因為它能夠測量電源讀數的微小變化。此外,3001 Prober還配備了特殊的自動化功能,可快速、高效地排除被測設備（DUT）的故障。最後,ELECTROGLAS 3001 Prober是一種通用可靠的半導體故障分析工具.其緊湊的設計和自動化功能有助於快速設置和高效的測試操作。3001 Prober具有長期的穩定性和先進的功能,為測試各種設備提供了理想的解決方案。