二手 ELECTROGLAS 3001X #9201995 待售

ELECTROGLAS 3001X是一種用於實現半導體模具和器件電氣測試過程自動化的處理器。它與機器視覺系統結合用於晶圓探測，用於表征和測試。3001X是一個基於模塊化和可擴展體系結構的全自動平臺。它為精密螺距探測提供了精確的運動控制和精度，具有較低的高速掃描熱特性。ELECTROGLAS 3001X prober被設計為提供最高級別的性能和優越的能力範圍，加上創新和靈活的設計特點。配備標準功能的3001X,例如二維運動、雙樣本交換和自動視覺驅動進紙器加載。它為晶圓測試、半導體模具測試和完整的數據管理提供了高度自動化。ELECTROGLAS 3001X與IBMs iProbeCobasys和California Instruments TPA2等自動晶圓測試系統配合使用。此外,prober可以與任何客戶指定的機器視覺系統配合使用。3001X是為降低測試成本和提高測試效率而設計的。它的模塊化體系結構促進了晶圓探測標準的發展。Prober提供了顯著的成本節約優勢,並通過增加生產吞吐量最大限度地縮短了整個探測過程中的處理時間。它可以提供雙向、全景和無間隙掃描，以便對每個接觸點進行自動測試。Prober可提供多達33個晶片的樣品容量,並具有針對電氣測試系統開發進行優化的占用空間。ELECTROGLAS 3001X還設計了GEM,一種具有圖形用戶界面（GUI）的操作系統。此GUI可用於執行簡單的命令行、未對齊校正以及流程控制的反饋。使用GUI,用戶可以輕松直觀地定義測試程序格式。Prober也被設計為高精度、重復性和分辨率高達兩納米。此外,3001X還可以精確地適應多個電氣探針的設計.它具有隔振的SMA移動器設計,可提供機械剛度和分辨率性能,以及堅固的無偏移移動器設計,可改進垂直傳動和Z軸沖擊保護。最後,ELECTROGLAS 3001X提供全面的支持,包括升級路徑、遠程服務、在線服務和服務網絡。它還為模具處理、晶圓分選、設備表征和自動測試等應用提供全面支持。3001X是半導體器件以及工藝開發和生產的理想選擇，因為它提供了先進的探測技術，具有無與倫比的性能和靈活性。