二手 ELECTROGLAS 3001X #9216751 待售

製造商
ELECTROGLAS
模型
3001X
ID: 9216751
Wafer prober.
ELECTROGLAS 3001X prober是一種多用途晶圓prober,旨在滿足各種測試要求。它具有28槽DUT板、多激光級對準系統、多板測試優化以及最大吞吐量。3001X prober的總行程範圍為160 mm,最大樣本量為50 mm,可為各種基材和晶圓尺寸提供最大的測試覆蓋範圍。Prober具有先進的軟件驅動運動控制系統,可用於精確和可重復的操作。先進的晶片處理系統可確保在接觸晶片上的設備時使用適當的力。Prober配備了針對特定應用的標準探針和定制探針。聲學或機械探針可用於探測DUT板上多達100個探針。ELECTROGLAS 3001X prober提供各種測試選項和測量功能。其嵌入式自動測試系統(ATS)提供診斷和故障數據分析選項。Prober能夠測量從DC到>20GHz,並且可以提供各種應用,包括寬帶、窄帶和寬帶+IF。可選的主板允許用戶擴展功能,以測量最多16位的模擬和數字性能指標。3001X prober還提供了完整的機械減重測試解決方案。該處理器包括硬件和軟件,旨在機械地減輕晶片的重量,從而提高晶片的產量和可靠性。ELECTROGLAS 3001X prober是大批量制造和測試應用的理想選擇。它易於使用,具有很高的準確性和可重復性,可用於各種測試場景。其卓越的性能和可靠的操作使其成為任何測試環境的寶貴補充。
還沒有評論