二手 ELECTROGLAS 3100X #9248180 待售

ELECTROGLAS 3100X prober是一種高度先進的晶圓探測設備，旨在幫助先進的半導體器件測試和開發。3100X為諸如高速DRAM、處理器和ASIC等復雜產品提供高精度和高速測試能力。該系統基於ELECTROGLAS快速可靠的XYZZ探針運動單元，提供可靠的定位精度和較短的測試時間。ELECTROGLAS 3100X通過結合晶圓級測試技術和自動化的最新進展提供可靠和可重復的測試結果。該機器通過其先進的電晶片級測試，包括電流、電容和ACIV測試，以及其獨特的角度探測能力，實現了可靠的測試。3100X能夠快速、準確地測試內存、微處理器、ASIC和其他集成電路設備。ELECTROGLAS 3100X具有晶片定位器，可以精確、重復地定位晶片批次和可靠的晶片負載。該工具還支持先進的晶圓照明以獲得最佳能見度。此外,3100X還采用了功能強大的軟件,可最大程度地減少光子散粒噪聲,提高測試的準確性和可重復性。此外,資產支持低壓探針接觸,確保保持較小的探針接觸力。這使介電滯後效應最小化，接觸壽命最大化。這允許對所有類型的半導體器件進行可重復和準確的測試。由於集成了運動控制模塊和高分辨率晶圓探測設備，該模型還提供了高通量和高精度測試。ELECTROGLAS 3100X具有擴展的探測區域,可在大型晶片批次上運行.該系統還為所有類型的晶圓測試提供可靠的數據采集。此外,3100X還提供了改進產品質量的高級晶圓和IC診斷。最後,采用電化學和MEMS計量系統支持ELECTROGLAS 3100X進行晶圓和IC綜合測試.3100X具有高精度和卓越的速度,非常適合檢查復雜半導體器件的開發、測試和生產。