二手 ELECTROGLAS 4001 #192465 待售

ELECTROGLAS 4001
製造商
ELECTROGLAS
模型
4001
ID: 192465
Probers.
ELECTROGLAS 4001是專為半導體表征、晶圓排序和屈服分析而設計的高性能prober。探測站為精確定位晶片提供了高精度空間。它由水平花崗巖基座和機構組成,驅動它在X-Y-Z。基於彈簧加載懸臂的探測系統可容納直徑達200毫米的所有晶圓。它在X-Y飛機上有一個實質性的8英寸行程,並且有127毫米的Z行程,以方便放置精度所需的微調。4001還具有頂部安裝的XY表,允許探針尖端精確移動到探針卡的高阻抗環境中。XY表允許將不同的探針卡手動或自動放置在要測試的區域上,使其成為測試半導體模具操作的理想工具。ELECTROGLAS 4001具有可調節變焦功率的高分辨率數碼視頻顯微鏡。該顯微鏡可用於觀察晶片上的微小點,並用於對準無壓力接觸探針,使信號質量損失最小。顯微鏡還有許多數字圖像存儲和操作選項。此外,它還具有從10℃到40℃的可調溫度範圍。需要設置溫度,以最大程度地減少熱膨脹並最小化任何元件發生故障的可能性。溫度使用PID控制精確控制,精度高達±0.1℃.4001還具有非常重要的位置感應特征,有助於將接觸探針精確放置在晶圓上。位置感測使用外部編碼器(類似於驅動機器人系統的編碼器)來計算探針尖端的精確X、Y和Z坐標。ELECTROGLAS 4001還有幾個內置的安全特性。這些安全功能包括一段時間後自動關閉、緊急停止和緊急緊急情況開關、雙備用供水和緊急聯絡點。總體而言,4001是為各種半導體測試應用而設計的高性能、可靠的處理器。其高精度、堅固的構造和可靠的安全特性保證了它將有助於提高測試操作的質量和速度。
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