二手 ELECTROGLAS 4080X DCM2 #9181221 待售

ELECTROGLAS 4080X DCM2 prober是一種高度精確和精確的自動化精密探測工具，用於測試和測量半導體器件，如集成電路（IC）和其他微電子器件。它設計用於探測和測試過程，有助於確保結果的準確性和可重復性。4080X DCM2利用先進的雙坐標測量（DCM）技術來精確測量不同的參數,包括臨界尺寸、接觸電阻和IC中的電流泄漏。探針卡站包括自動校準和調節，使機器易於設置和操作。Prober還配備了高配準功能，如精細對準傳感器和臨界尺寸工具，有助於保持結構和探針卡之間的精確配準。該工具還具有先進的模式識別和運動控制系統，有助於確保探測過程的準確性和一致性。系統還包括非接觸式探針提示選項,允許用戶使用不同類型的樣本,而無需重新組裝工具。ELECTROGLAS 4080X DCM2還能夠每秒執行25-300次高速測量周期，使其適合測試各種小型IC。該系統也非常可靠，提供了良好的準確性，使其能夠用於一系列的設備測試應用。總體而言，在測試和測量IC和其他微電子器件時，4080X DCM2 prober是一個極好的選擇。雙坐標測量技術以及先進的模式識別和運動控制系統所實現的高精度、高精度的探測過程使其成為廣泛應用的可靠和值得信賴的選擇。