二手 ELECTROGLAS 4080X #293594833 待售

製造商
ELECTROGLAS
模型
4080X
ID: 293594833
Prober Temperature: 98°C - 100°C.
ELECTROGLAS 4080X Prober是一種高精度、自動化的探測設備,設計用於在各種樣本量、材料和層上產生精確的晶圓測試結果。該系統能夠在單個單元中測試數字和模擬IC以及射頻和電源設備。4080X Prober由用於樣品移動和放置的光學對齊XY/Theta級、用於樣品處理的XYZ/Theta臂和高功率顯微鏡(可用光學器件為10 x和40 x)組成。此外,該機器可擴展,最多可有四個運動軸,以滿足額外的探測需求,並且設計用於方便地設置和處理納米級探針。通過最先進的設計,ELECTROGLAS 4080X Prober消除了操作員的猜測,顯著提高了探測精度。該工具具有直觀的用戶界面(UI),允許快速、無故障地安裝和運行測試作業。UI包括詳細識別作業參數、快速簡便的設置參數、可編程探測速度、步長和掃描功能以及自動鎖定和校準功能的配方顯示。還有一些先進的內置算法可以針對熱漂移和其他環境影響進行調整。4080X Prober的高精度探測是利用其納米級探針陣列實現的,提供了最高精度和可重復性。探頭是使用先進的材料和技術構造的,以確保精確的測量,並且有一系列的配置可以滿足不同的測試要求。ELECTROGLAS 4080X Prober專為長期生產性能而設計,可靠性高,適合各種網絡應用和技術進步。該資產支持行業標準測試環境(ATE),並且與各種硬件配置選項兼容。為了與現有硬件兼容,Elecroglas 4080X Prober具有支持各種網絡、軟件和硬件平臺的高級通信接口。此外,還提供了一系列測試軟件選項,以進一步提高其專門的測試能力。ELECTROGLAS 4080X Prober模型是一種先進的高精度探測解決方案,可為許多不同類型的應用提供可靠性和準確性。它是為長期、持續的性能而設計的,其先進的技術確保了對各種測試條件的一致采樣。該設備的可配置和可升級設計為將來的測試需求提供了靈活性和可擴展性,使其成為多種類型測試環境的絕佳選擇。
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