二手 ELECTROGLAS 4085X #9251750 待售
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ID: 9251750
晶圓大小: 8"
Prober, 8"
With TEMPTRONIC TPO 3010 controllers
Thermal non-contacting wafer chuck
TPO 3010B-2100-1 Temperature controller with IEEE interface
Wide temperature range: 200°C
DC Control system minimizes electrical noise
Temperature stability: ± 0.1°C
Temperature accuracy: ± 0.5°C Calibrated against transmission
High volume cassette to cassette
Advanced thermo chuck design:
Low stray capacitance and high electrical leakage resistance
Electrical surface insulation:
109 Ohm at 500 V between surface
Ground at +25°C
Superior chuck temperature uniformity: ± 0.5°C or ± 0.5% of target temperature
System controller: RMHN4
Display controller module: DCM3
Prober control module: PCM
Vision module: PRM-3
OPTEM HF Video microscope with (2) light sources
RAM / REID ASHMAN OM971FF Manipulator
SUN MICROSYSTEMS SPARC Server 670 MP
Power supply: 208 V, 20 A, 50/60 Hz.
ELECTROGLAS 4085X是由ELECTROGLAS在半導體工業測試的最前沿設計的PROBER，旨在滿足最具挑戰性的應用中對超高通量最苛刻的要求。4085X采用四級並聯驅動的機械手設備,具有多軸運動功能,能夠支撐最大500 mm的運動範圍。最大動態載荷為1千克,所有6軸均設計為以高達1000毫米/秒的速度移動。ELECTROGLAS 4085X具有很高的速度、精度和可重復性要求，非常適合任何高精度測試系統。4085X是多用途的，具有兩種不同的前置類型：標準型和高性能型。標準型具有低力200毫米探頭,而高性能型則提供增強的高力500毫米探頭。標準型是較軟材料的理想選擇，而高性能型則是較硬、較具挑戰性的基材的首選。它還具有一個專有的索引，可以與復雜的定位和運動控制單元相結合，以最大的生產力。其先進的電子產品可以支持廣泛的控制器和軟件應用，以確保與任何測試機器的無縫集成。ELECTROGLAS 4085X還能夠支持可選的NIST可追蹤級校準包,允許進行完全可重復的測試。4085X設計為易於用戶使用,並帶有圖形用戶界面,以便於控制儀器。它還具有一系列可編程的功能，包括可編程晶片設置選項，允許快速和方便的晶片加載。總體而言,ELECTROGLAS 4085X是一種高性能處理器,非常適合任何需要精確、可重復性和高吞吐量的測試環境。它具有可自定義的選項、靈活的設計和精密的電子產品,非常適合在確保最佳精度的同時縮短測試時間。
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