二手 ELECTROGLAS 4090 #9231745 待售
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ELECTROGLAS 4090 prober是一種先進的晶圓探測設備，在集成電路（IC）的制造中提供自動晶圓處理和測試。設計用於精確測量接觸電特性和器件幾何參數，精度高，重復性好。4090基於單載波靜電顯微鏡（EFM）技術,該技術使用探測器網格來測量微小的電力。該系統是完全自動化的，旨在可靠地測量各種幾何樣品，包括接觸芯片、晶體管和透矽共振（TSVL）。Prober與任何手動或微操縱器兼容,或使用Field-crogrammable Gate Array （FPGA）進行prober掃描頭兼容。這種強大的功能使設備能夠準確檢測設備上單個觸點的小電壓變化。例如，它可以在小到一英裏的高度可靠的裝置中檢測到幾毫安的電流泄漏。ELECTROGLAS 4090 prober配備了全方位的精密定位裝置和精密控制器。機器可以根據要測量的特性來編程選擇不同的測量技術。它還具有一個自定義掃描選項,允許以靈活的速度從任何興趣點獲取數據。此外,該工具還包括一個高分辨率激光幹涉儀,用於精確掃描,具有嚴格的公差.它還包括一個空氣承載級，以確保平穩移動與快速和精確的對準。該資產支持多種高級軟件功能,如多維對齊、測試時間優化、關鍵參數分析和探針定位,使其適合晶圓測試和原型設計。4090還提供電接觸特性、接觸角計量、汙染檢測、納米處理等多種先進測量能力。它有一個專門的環境室，可以調節溫度和濕度，以延長prober的光學元件和接觸墊的壽命。ELECTROGLAS 4090 prober的設計符合當今集成電路生產線的苛刻要求。其高度精確的測量能力、高效的自動化能力和創新的軟件使其能夠減少晶圓測試時間並提高吞吐量。
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