二手 ELECTROGLAS 4090 #9233875 待售
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ID: 9233875
Wafer prober
Chuck type: Hot chuck ambient
Temperature: Up to 130°C
Chuck assembly: Gold
Operating system: MS-DOS
Base pneumatic assembly
Chuck-top
Pre-aligner assembly
T-Arm assembly
Indexer assembly
A6
A13
VM: OCR and Optics bridge camera controller unit
MHCM: A14B PCB Board
Missing parts:
IDE / Hard Disk Drive (HDD) and Floppy
Joystick assembly
Power supply
No material handler control boards
No monitor
No chuck forcer
No PCM boards
Assembly:
Main power supply
Chuck-top (Gold / Silver)
EG Monitor
Operator control panel (Joystick assembly)
DCM:
Floppy A3
Hard disk drive A2
Power supply (PS1)
A1 Pentium board, 200 MHz
A1A1 Digital communication board
A1A2 Ether link communication (Network interface)
A1A3 Audible alarm / (2) Lamp drivers
A1A6 Marvels (2)
Power supply: 200/230V.
ELECTROGLAS 4090是一種在半導體晶圓探測中提供高級控制和精度的prober。該探頭適用於高速並行測試，標配安全高度調節、激光對準、觸摸探頭功能。4090的安全高度調節功能采用了先進的空氣軸承技術和用戶可調節的氣壓。這提供了比接觸式探針更高的準確性、可靠性和可重復性。此外，它簡化了調整和維護，並減少了環境振動對測量的影響。Prober還配備了激光對準設備，提供比傳統機械方法更高的精度和重復性。該系統由兩軸激光幹涉儀和兩個集成定位級組成。它可以精確測量低至5微米的探針到晶片的距離,從而在測試缺陷時實現更嚴格的公差。ELECTROGLAS 4090有一個集成的觸摸探頭單元,可自動測量圖樣或特征。它配備了五軸控制環路、先進的可編程控制器、觸摸探針組件和自動裝卸工具機。Prober還配備了一些配件，以進一步定制其用途。其中包括一個EDGE™品牌的高度計、一個邊緣檢測庫、一個焊料厚度掃描儀和一個吸塵器。這些功能在各種晶圓探測測試中提供了更高的準確性和效率。總而言之,4090是專為自動測試而設計的高性能處理器。它適用於各種應用，為用戶提供安全的高度調節、激光對準和觸摸探針功能等優點。利用一套全面的附件和先進的技術，這種探針能夠在半導體晶圓探測中達到最高精度和可重復性。
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