二手 ELECTROGLAS 5300e #200853 待售

ELECTROGLAS 5300e是一種prober,一種精密測試工具,用於集成電路組件的電氣測試。它是為高級半導體器件的高精度、高速探測而設計的，以確保它們正常工作，並將在未來的操作中繼續這樣做。5300e能夠提供以下功能：晶片凸起探測、設備表征、缺陷分析、密集陣列的電氣測試和故障分析。Prober配備了尖端顯微鏡，使操作員能夠清晰地看到半導體器件的極小連接。ELECTROGLAS 5300e是一款高速微定位器，具有兩步、低噪聲步進電機驅動。微定位精度和可重復性在1mm行程1 μ米以內。該設備的設計還可以為低體積/低探針密度應用提供更高的精度。微定位器支持多種傳感器類型，包括電容傳感器、機械傳感器和光學傳感器，實現了廣泛的探針卡和prober配置。5300e配備了完全由軟件控制的XYZ Stage，包括雙獨立的z軸，可用於瞄準非對稱晶圓級別和組件。這兩個Z軸級都具有Anti-Backlash螺母組件,可提供卓越的定位精度。三區溫度系統可確保活動區和非活動區保持精確、一致的溫度,同時通過防止過熱確保樣品壽命長。Prober配備了多種晶圓處理系統，包括自動彈出裝置、直通機構、盒式磁帶和精密加載夾具。ELECTROGLAS 5300e還包括一個四軸、4線開環步進電機和閉環電機控制單元，以實現晶圓、器件和其他元件的精確、定時和可重復移動，用於精確和可靠的器件表征測量。該機還支持各種探測模式，如高速、高精度、低壓探測。5300e提供了廣泛的數據分析和診斷工具,以確保最兼容和可靠的結果。高級軟件功能（如ProLog和Badger View）允許用戶快速分析設備的性能特性,以及本地化測試故障和排除設備故障。Prober數據管理功能還支持輕松的數據檢索和prober腳本控制。ELECTROGLAS 5300e是為抵禦極端的工作環境而打造的,具有防塵和防液外殼以及溫度控制環境。集成的安全系統,例如Ensemble的固態繼電器,可防止因電氣故障而造成的潛在危險。資產還包括用於校準和診斷的高級使用點工具,以及其他各種復雜功能。5300e prober提供無與倫比的準確性、可靠性和性能,使其成為測試先進半導體器件的絕佳選擇。