二手 ELECTROGLAS 6000 #9244389 待售
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ID: 9244389
Prober
X, Y Stage with prober control, 12"
Hot chuck top assy, 12"
Vision module with dual bridge CCD camera
Wafer profiler kit
Inker & edge sensor box
Cassette wafer loader
LCD Touch screen monitor
PZ7 Z Stage: 0.125 MIL
Probe To Pad Alignment (PTPA)
Direct Probe Sensor II (DPS II)
Probe Mark Inspection (PMI)
Self Teach Auto Alignment (STAA)
Wafer Stepping & Scaling Calibration (WSSC)
AC Input: 220V
TTL & GPIB Interface: RS-232.
ELECTROGLAS 6000是一種高性能的探測器,主要用於探測和測試半導體工業中的電路板和集成電路。它的特點包括大量的元件和增強功能,如先進的自動化能力,頂級的熱和真空系統,以及高精度的運動控制,使其成為最有性能的設備之一。6000的自動機床設計為在探頭測試過程中最小化安裝時間並提供更高的效率和準確性。機床自動化由基於硬盤的觸摸屏控制設備管理,該設備最多可管理6個腔室和16個順序探測操作,從而減少了用戶的手動幹預。此外,該站還配備了精確加工的底板,可用於基於視覺的應用。ELECTROGLAS 6000中的高精度運動控制系統是實現不同類型探頭最高精度運動控制的完美解決方案。它采用超精密、低噪聲驅動單元和微型導管伺服電容探頭,保證了最高水平的性能和準確性。除了運動控制機外,6000還具有卓越的熱和真空控制系統.熱控制工具利用高效的熱管理資產,能夠在整個測試環境中提供穩定和統一的溫度控制。真空模型經過專門設計,可對壓力和原位真空水平進行精確和可重復的控制,並在測試期間盡量減少設備的漂移和工藝變化。最後,ELECTROGLAS 6000的設計允許可編程訪問不同的參數和定時事件,從而使系統易於精確調整。此功能對於大批量生產過程特別重要,因為生產過程的時間和一致性是關鍵。總體而言,6000是一個高性能、高度精密和極其可靠的prober單元,旨在在測試不同類型的組件時提供最高的準確性和可重復性。ELECTROGLAS 6000具有先進的自動化能力、高精度的運動和熱控制系統以及用戶可編程的不同工藝參數訪問,是半導體測試和探測最先進的解決方案之一。
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