二手 ELECTROGLAS / EG 1034XA-6 #9097866 待售

ELECTROGLAS/EG 1034XA-6 Prober是一種高度先進的多用途prober設備,在處理高密度半導體晶圓材料時提供極高的精度和靈活性。EG 1034XA6 Prober每小時可測試多達760個晶圓,並采用專利的高級Wafertree6路由陣列晶圓處理系統進行設計。這種革命性的路由陣列單元使ELECTROGLAS 1034X-A6 Prober能夠以極高的精度和高速精確測量晶圓上的多個接觸點。與其他晶圓探針不同，1034XA6 Prober有一個可調裝載室，有四個可調的穿梭雪橇和一個穿梭雪橇調平器，以容納任何尺寸的晶圓。該探頭還包括一個精密的晶片探針卡測量站，能夠以無與倫比的精度同時測量多達800個接觸點。EG 1034XA-6 Prober還包括一個安裝在轉子上的晶片卡盤以及一個用於遠程控制所有操作的以太網鏈路。EG 1034X-A6 Prober專為極高的可靠性而設計,采用最新的晶圓處理技術,可處理直徑不超過12英寸的晶圓。Prober還具有復雜的策略編輯器,使用戶能夠對基於規則的操作進行編程,從而使計算機能夠根據收集的數據做出決策。此外,ELECTROGLAS 1034 XA-6 Prober還具有復雜的反沖功能,可防止在處理復雜晶圓模式時出現prober錯誤。此外,1034 XA-6 Prober還包括許多診斷功能,如光學缺陷映射、時間估計和熱映射工具,可幫助用戶識別潛在的晶圓問題。探頭還包括一個超聲波清潔設施，以確保探測時的最高水平的清潔。最後,ELECTROGLAS/EG 1034 XA-6 Prober提供了多種自動性能檢查,使評估和驗證結果的準確性變得更加容易。ELECTROGLAS/EG 1034 XA 6 Prober是一款極為先進的機器，設計用於在處理高密度半導體晶圓材料時提供極高的精度。ELECTROGLAS/EG 1034XA6 Prober具有可調節的裝載室、精密晶片探針卡測量站、先進的Wafertree6布線陣列、超聲波清洗功能以及大量的自動性能檢查,是測試和測量各種晶片材料的完美解決方案,精度和可靠性無與倫比。