二手 ELECTROGLAS / EG 2001CX #9172345 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
2001CX
ID: 9172345
晶圓大小: 8"
Wafer prober, 8" Disk based Gold plated chuck, 6" OLYMPUS SZ30 Microscope Eyepieces: GSWH 20x / 12.5 MELLES GRIOT Laser Configured for: Automatic wafer load Automatic wafer alignment Automatic wafer measurement Automatic wafer test / sort.
ELECTROGLAS/EG 2001CX Prober是一種計算機控制的測試和測量設備,設計用於電子測試高技術半導體器件樣品。它配有一組探針,每個探針都連接到被測設備的一個插座/連接器/針腳。可以根據特定設備的參數和物理要求自動配置和調整探測。該系統能夠進行晶圓探測、樣本探測、大型設備探測、高溫探測、模擬測量以及並行和串行數據傳輸。該儀器能夠收集和分析最高速度為1 500萬個樣本/秒的數據,一次可傳輸多達1 600萬個參數。Prober的數字輸入/輸出通道具有高帶寬的可編程邏輯電路(PLC)。這些用於控制探測序列,可以很容易地調整以提供更高的速度和精度。驅動器的放大器電路放大輸入信號,優化探測功率和精度。內置的驅動電路可以檢測和處理各種設備和電壓。人性化的觸控界面,配有16英寸彩色液晶顯示屏,讓操作流暢直觀。該設備包括高級測試和測量軟件,非常直觀,使用簡單。數據可以在各種圖形和繪圖中輕松查看、處理和分析。軟件提供各種測試和分析工具以及預設,使探測過程快速高效。軟件還可以以各種硬件格式(VME、PCI等)讀取/寫入。該單元還配備了繼電器卡,允許機械和電氣開關,以便同時控制和切換探頭。它具有出色的溫度穩定性和堅固的內部機器結構,允許穩定、精確、可重復的測試,且誤差或降級最小。該儀器具有完整的安全認證,包括GFCI和EMC認證。它的重型和全金屬外殼以及觸摸靈敏控制按鈕確保了可靠性和耐用性。Prober是半導體元件、IC和板級測試電氣測試的理想工具,在快速精確的測試中提供無與倫比的結果。
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