二手 ELECTROGLAS / EG 2001CX #9260446 待售

製造商
ELECTROGLAS / EG
模型
2001CX
ID: 9260446
優質的: 1995
Prober Microscope arm OLYMPUS Low power scope Chuck type: Gold chuck top, 6" Ring carrier type: Rectangular probe card holder without holder Vision module type: COGNEX Auto align-PRM 2 Auto align: CCD Camera Table type: PT-201 High boy table Hot chuck Monitor type: LCD Operator console Monitor console Inker / Edge sensor box NCES Profiler Material handling 1995 vintage.
ELECTROGLAS/EG 2001CX是一種計算機控制的晶片探測器,設計用於通過探測操作檢查和測試高精度電子和光子器件。它有一個以陶瓷為基礎的底座和一個開放的設計,以達到最大的可及性。該設備支持使用多個頭部配置,並設有30位校準板,以最大限度地提高測試處理的靈活性。Prober基座設計為移動和傾斜,以適應不同類型的測試設備。這允許訪問具有不同高度級別的大型測試設備,最大可達2450 x 1150 mm。它還具有從+5°到-20°的可調傾斜範圍,以容納更大的設備。此外,2001CDX還有一個帶有圖形用戶界面的觸摸屏和一個範圍為+/-50 mm的線性定位系統。這提供了x、y和z軸上的一系列高精度運動。該單元能夠處理直徑可達300 mm的晶片。它具有自動晶片裝載機,能夠自動對準、卸載和背面探測晶片。此工具還提供了一種「教學」模式,使用戶能夠根據自己的特定生產需求定制資產。該2001CDX還具有先進的光學居中模型,可提供0.1mm至1mm範圍內的偏心居中方案。該2001CDX配備了晶片管理器I/O (WMIO)技術,用於自動晶片調度和跟蹤。該技術提供了庫存、歷史記錄和過程控制交互的在線設備。該系統還提供對單元控制器的安全訪問,並包括一個集成的網站,用於通過Web瀏覽器進行遠程操作。Prober能夠進行多頭配置,其中包括兩個用於邊緣探測的磁頭、一個用於透晶片探測的磁頭、一個用於電氣接觸探測的磁頭、一個用於微定位的磁頭以及其他一些特殊功能。該機還可以容納多種測試配件,如光學、微定位階段、高速數據采集系統、定制探頭等。2001CDX工具支持多個晶圓處理塔,為同時處理多個晶圓提供了靈活性。單個手動定位或自動晶圓處理塔可與資產一起使用,最多可容納四批晶圓進行測試。該模型還包括探針卡設計和診斷站,為增強的測試環境提供多個測試信號路徑。
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