二手 ELECTROGLAS / EG 2001CXE #9155108 待售

ID: 9155108
Prober Table: High Operating system: Prober vision.FA Ring carrier: RC-2 Profiler: Piston Microscope: Olympus 99 Chuck top: 6" Gold - hot Align camera: cohu - black Z Stage: PZ-250 (0.25-mil) DAR Resolution: High (DAR-IV) Handler type: 6 Inch belt track Vision module: Cognex PRM-3 Power requirement: 220 Vac Air requirement: 80 psi Vacuum requirement: 18 Inch Hg.
ELECTROGLAS/EG 2001CXE是為高性能半導體晶圓探測而設計的探測設備。它提供了從0.6mm螺距CSP到4,400萬細螺距球柵陣列的IC器件的全面晶圓接觸測試。該系統能夠在150 mm、200 mm或300 mm晶圓上測量多達4個數字、2個模擬或1個電源設備。該單元與標準探針卡高度兼容,允許使用成本較低的Mini-CardTM和大面積接觸器組件。該機采用先進的操作工具,確保了晶圓的精確放置,並提供了高度的運動控制精度。運動控制資產具有晶圓高速X-Y運動和高精度壓電驅動Z軸運動的能力。它還具有4軸校準和校正復雜晶圓錯位的功能。該模型提供了許多選項,使用戶能夠自定義和微調其測試環境。它包括一個晶圓停止設備提供精確和一致的晶圓位置和空氣軸承晶圓溫度控制。它還包括一個高速晶圓預采樣計時器,精確控制采樣加載時間,以提高吞吐量和工藝優化。此外,系統還提供了一個可選的位置超限設備,以防止超限和損壞。EG 2001CXE還提供各種適合用戶特定測試環境的軟件選項。它包括一個圖形用戶界面(GUI)以提供對設備的完全控制,以及一個集成的CAD導入計算機,以允許對測試數據進行節省時間的設置和分析。此外,該工具利用Reflection Series數據采集資產提供高端數據采集功能,為測試和數據分析提供更快的周轉時間。該模型完全符合行業標準(包括SEMI標準),並具有較長的產品生命周期以提高可靠性。該設備的設計考慮到耐用性,配有增強的機櫃和耐用的機械部件。它還具有低振動水平、溫度穩定性和可變溫度幹燥。最後,ELECTROGLAS 2001 CXE是一種先進的高速螺旋槳,專為IC器件的晶圓接觸測試而設計。它為用戶定制和微調測試環境提供了許多獨特的功能和選項,並且完全符合行業標準以提高可靠性。
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