二手 ELECTROGLAS / EG 2001CXE #9260444 待售

ELECTROGLAS/EG 2001CXE是一種精密探測器,設計用於測量和檢查集成電路（ICs）.適用於將IC連接到探針，在晶圓上測試IC，以及在各種應用中使用IC。EG 2001CXE的動態分辨率高達0.001 µm,可提供快速準確的測試結果。Prober的架構類似掃描電子顯微鏡，具有緊湊的平臺和獨特的空氣軸承設計。Prober具有高級自動化系統,使其能夠在很短的時間內完成復雜的任務。ELECTROGLAS 2001 CXE包括多個標準特性，包括兩個探頭、一個探頭檢查室、一個手動數據輸入的數字鍵盤、一個真空晶片卡盤、一個數字讀出系統和一個高分辨率的光學拾音頭。集成放大器允許用戶調整信號的增益和偏移量。此外,探頭具有可調節的探頭高度,可針對不同的應用對其進行優化。2001CXE還配備了平板液晶顯示屏,能夠顯示不同類型的測量數據,以及正在測試的晶圓的實時圖像。這樣可以對檢查過程進行實時檢查和監測。Prober還具有高級軟件,可以將其配置為自動測試IC的特定部分,以及在一個批中測試多個晶片。EG 2001 CXE使用最新的精密力學和運動控制技術,為測試IC提供了完全自動化的解決方案。集成軟件提供實時分析,允許用戶快速識別和解決故障或差異。此外,prober與最新的IC設計和引腳網格陣列（PGA）芯片組兼容,確保其準確可靠。2001 CXE是測試和檢查IC的強大而可靠的工具。Prober的獨特特性和功能為用戶提供了一種經濟高效且可靠的測試和檢查各種應用程序中的IC的方法。ELECTROGLAS 2001CXE具有先進的自動化系統、高分辨率和快速的測試速度,是IC測試和檢查的絕佳選擇。