二手 ELECTROGLAS / EG 2001X #186971 待售
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ID: 186971
Prober
Prom based Software 249799.021.DD
Auto load
Auto align
NCES rocker style Profiler
PRM-2 vision system
Microscope 4X zoom
Monitor. Good condition, no screen burn in.
Probecard holder. Set up for 4.5" probecards.
PZ5 Z stage
6" EG Hot Chuck
Low table.
EG (ELECTROGLAS) ELECTROGLAS/EG 2001X prober是一種自動晶圓探測解決方案,設計用於半導體制造行業的故障檢測、表征和測試。它是探測高密度電子電路和其他結構,以及集成電路(IC)和離散元件的理想工具。EG 2001 X既能執行高速探測,又能執行設備表征和測試所需的更精確、低速探測。ELECTROGLAS EG2001X具有高精度、高速X-Y機動化級,可快速、可重復掃描晶片,精度高達1 μ m。該設備還配備了多種傳感器類型以及力控制和主動阻尼,提供了無與倫比的精度和可重復性。此外,探頭系統可以同時執行同軸和接觸式探測,使用戶能夠快速表征電壓和阻抗要求不同的各種組件。EG 2001X還具有一些增強性能的附加功能,包括執行步進重復探測、測量多個位置的設備參數以及生成測試後工程報告的功能。該單元還包括各種軟件工具,如探測配方和測試宏,以自動化和簡化測試過程。ELECTROGLAS 2001X還集成了ELECTROGLAS/EG Choice自動化加載系統和VisionESAL導光加載系統,以減少停機時間並提高吞吐量。除了先進的功能外,ELECTROGLAS/EG EG2001X還設計了易於使用和低維護。操作需要最少的培訓,其模塊化設計使其易於更新或升級。該機還結合了自我檢查、自我診斷、自我調整等功能,確保了一致可靠的性能。總體而言,EG (ELECTROGLAS) EG2001X prober是一種先進、高精度和可靠的探測解決方案,適用於各種半導體應用。它結合了高速掃描、精確定位精度和各種測試特性,成為高密度電路和組件故障檢測、表征和測試的理想選擇。
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